集成电路测试数据分析系统的设计与实现.pdf
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工艺与制造ProcessandFabrication
集成电路测试数据分析系统的设计与实现
陈光胜
（上海东软载波微电子有限公司，上海200235）
摘要：阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素，探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数
据一致性所面临的技术挑战，从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析，提出
有效的实施策略。同时，围绕集成电路测试数据所面临的数据质量问题，挖掘数据质量特征，通过数据
质量的主要评价标准及技术效果，提出和实施可行的数据治理方案。
关键词：集成电路测试，测试数据分析，数据质量，数据质量特征。
中
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