x射线荧光光谱仪-基本原理.pptx
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X射线荧光光谱仪
基本原理
1. X射线 X射线是一种波长（λ=.001～10nm）很短的电磁波，其波长介于紫外线和γ射线之间。
2. X射线谱 由特征X射线组成的光谱称为特征X射线谱。
3. X射线荧光特征：X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系→ 莫斯莱发现，
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X-射线荧光光谱仪基本原理及应用 同样，当空穴产生在L层，所产生一系列辐射则统称为L系辐射。当较外层的电子跃迁（符合量子力学理论）至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了X 荧光。X荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征X射线，也称荧光X射线或X荧光。 1 基础理论与知识 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的，表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的，使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一。 对于任意一种元素，其质量吸收系数随着波长的变化有着一
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X-射线荧光光谱仪基本原理及应用; 当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。K层电子被击出称为K激发态，同样L层电子被击出称为L激发态。此后在很短时间内，由于激发态不稳定，外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态，以降低原子能级。当空穴产生在K层，不同外层的电子（L、M、N…层）向空穴跃迁时放出的能量各不相同，产生的一系列辐射统称为K系辐射。同样，当空穴产生在L层，所产生一系列辐射则统称为L系辐射。当较外层的电子跃迁（符合量子力学理论）至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了X
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X-射线荧光分析基本原理及应用;课程内容;X射线荧光分析(XRF);4;碰撞;一、基础理论与知识;7;8;1基础理论与知识;;;布拉格方程;比尔-朗伯定律（Berr-Lambert‘slaw），是反应样品吸收状况的定律，涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。
当X射线穿过物质时，由于物质产生光电效应、康普顿效应及热效应等，X射线强度会衰减，表现为改变能量或者改变运动方向，从而使向入射X射线方向运动的相同能量X射线光子数目减少，这个过程称作吸收。
对于X射线荧光分析技术来说，原级射线传入样品的过程中要发生衰减，样品被激发后产生的荧光X射线在传出样品的过程中也要发生衰减，由于质量吸收系数的不
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*石墨炉：一定量的样品加入到石墨炉（一般为石墨材质）内，电加热经几个步骤，最后在一个较高的温度下，被迅速地原子化，从而产生与被测元素的含量成正比的原子数量突出的优点：灵敏度高，检出限低进样量少重要的问题：分析速度慢（一般每次分析2～3分钟）精度差（一般1～5％，正常吸光度）原子化机理复杂，导致背景问题第31页,共36页，2024年2月25日，星期天MnTcReFeRuOsCoRhIrZnPdPtCuAgAuZnCdHgBAlGaInTlCSiGeSnPbNPAsSbBiOSSeTePoFClBrIAtHeNeArKrXeRnHLiNaKRbCsFrBeMgCaSrBaRaScYLaAcTiZr
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* * * * * * * * Confidentiality Label YTPU? 2009 烟台万华 YTPU? 2009 烟台万华 Confidentiality Label ? 公司文件 ? 公司文件 * Confidentiality Label * 原子吸收光谱仪基本课程 基本原理 光谱早期发现 * Confidentiality Label * 太阳光 棱镜 1600年牛顿发现太阳光经过棱镜后分成了彩色光带，他称其为光谱。 Fraunhofer 线 ? 1802年 Wollaston利用狭缝和‘棱镜，第一次发现太阳光谱中的暗线
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1.2 X射线荧光光谱仪的种类（按原理分）： 1.3 WDXRF与EDXRF对比： * * ROHS测试仪分析原理 1.0 XRF介绍： 1.1 XRF射线的发现： 1895年德国物理学家伦琴发现X射线。 1896年法国物理学家GEORGES S 发现X射线荧光。 1948年，美国海军实验室弗利德曼和伯克斯应用盖克计数器开发出第一台波长色散X射线工荧光光谱仪。 20世纪七年代末，我国开始引入X射线荧光光谱仪。 1.2 X射线荧光光谱仪的种类（按规模分）： 便携式工荧光能谱仪：同位素源为激发源，体积小巧，便于携带，不能达到大型荧光能谱
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考生姓名：答题日期：得分：判卷人：
本次考核旨在检验考生对光学光谱仪基本原理的掌握程度，包括光谱仪的工作原理、光学系统、检测器及其应用等方面。通过对试题的回答，评估考生对光谱仪基础知识的理解和应用能力。
一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）
1.光学光谱仪的基本功能是（）。
A.发光
B.检测
C.分光
D.以上都是
2.光谱仪中，狭缝的作用是（）。
A.发光
B.分光
C.聚焦
D.检测
3.在光谱仪中，色散元
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X 射线荧光光谱仪
自从 1895 年伦琴(RoentgenWC)发现 X 射线之后不久，莫斯莱(MoseleyHG)于 1913 年发表了第一批 X 射线光谱数据，阐明了原子结构和 X 射线发射之间的关系，并验证出 X 射线波长与元素原子序数之间 的数学关系，为 X 射线荧光分析奠定了基础。1948 年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散 X 射线光谱仪。自 20 世纪 60 年代后，由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异， 促使 X 射线荧光分析技术的进一步拓展。X 荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技 术，已广泛应用于宝石矿物、材料 科学、地
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雷尼绍拉曼光谱仪的基本原理和仪器改进
摘 要：该文简述了激光拉曼光谱的发展历史、原理以及在实验室应用中的进展。特别介绍了雷尼绍拉曼光谱仪的特点、性能、应用范围。现有雷尼绍拉曼光谱仪样品台还相对简单，具有一定的局限性。因此在现有基础上对样品台进行了改进，设计了内嵌式的样品载物台，可以适用于多种形态的样品。
关键词：激光拉曼光谱 雷尼绍 样品台
中图分类号：TH744 文献标识码：A 文章编号：1672-3791（2016）03（c）-0066-02
Raman光谱仪的发展简史20世纪70～80年代后才出现商品化的三光栅拉曼光谱仪，需要较大的激光功率，消耗大、灵敏度
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纳优科技有限公司是一家致力于X射线荧光分析技术研发的专业化高科技企业；在白友兆博士等老一辈技术专家的悉心指导和带领下，公司的研发团队经过20多年的研发实践和技术积累，已经成为中国XRF分析技术领域内的创新者和领导者。
纳优科技有限公司面对RoHS指令、无卤化指令等世界范围内日益严格的环保法规，纳优科技携手工业和信息化部电子电器产品污染控制技术促进中心，参与到工信部牵头组织的中国RoHS标准制定项目中，为电子电器生产企业精心打造出RoHS等环保指令专用的XRF分析仪器，并同时推出了基于XRF分析技术的、低成本的系统化解决方案，从而帮助电子生产企业对生产过程进行有效的管理控制，满足世界各国
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Varian 700-ES系列 全谱直读等离子发射光谱仪 培训讲义 美国瓦里安公司中国南区市场部 ICP-OES 基本原理 概 述 原子发射光谱分析是一种已有一个世纪以上悠久历史的分析方法，原子发射光谱分析的进展，在很大程度上依赖于激发光源的改进。到了60年代中期，Fassel和Greenfield分别报道了各自取得的重要研究成果，创立了电感耦合等离子体原子发射光谱新技术，这在光谱化学分析上是一次重大的突破，从此，原子发射光谱分析技术又进入一个崭新的发展时期。与此同时，其它等离子体光谱分析技术（直流等离子体、微波等离子体）也得到了长足的进步。 ICP-OES能分析约7
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原子荧光光谱基本原理及应用.ppt
Contents 概述 基本原理 仪器结构 应用情况 概述 原子荧光光谱法（AFS）是一种痕量分析技术，是原子光谱法中的一个重要分支。是介于原子发射光谱法(AES)和原子吸收光谱法(AAS)之间的光谱分析技术 ，所用仪器及操作技术与原子吸收光谱法相近。 AFS的发展历程 1859年开始原子荧光理论的研究 1902年首次观察到钠的原子荧光 1962年提出将原子荧光用于化学分析 1964年得出原子荧光的基本方程式 1964年对Zn、Cd、Hg进行了原子荧光法的分析 1974年首次将氢化物进样技术和无色散原子荧光光谱技术相结合，开创了氢化物发生—无色散原子荧光光谱分析技术（HG-AF
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1 原子荧光光谱法的基本原理
1.1 原子荧光光谱法原理
原子荧光光谱法(AFS)是原子光谱法中的一个重要分支，是介于原子发射(AES)和原子吸收(AAS)之间的光谱分析技术，它的基本原理就是: 固态、液态样品在消化液中经过高温加热，发生氧化还原、分解等反应后样品转化为清亮液态，将含分析元素的酸性溶液在预还原剂的作用下，转化成特定价态，还原剂KBH4反应产生氢化物和氢气，在载气（氩气）的推动下氢化物和氢气被引入原子化器（石英炉）中并原子化。特定的基态原子(一般为蒸气状态)吸收合适的特定频率的辐射，其中部分受激发态原子在去激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长