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X 射线荧光光谱仪
自从 1895 年伦琴(RoentgenWC)发现 X 射线之后不久,莫斯莱(MoseleyHG)于 1913 年发表了第一批 X 射线光谱数据,阐明了原子结构和 X 射线发射之间的关系,并验证出 X 射线波长与元素原子序数之间 的数学关系,为 X 射线荧光分析奠定了基础。1948 年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散 X 射线光谱仪。自 20 世纪 60 年代后,由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异, 促使 X 射线荧光分析技术的进一步拓展。X 荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技 术,已广泛应用于宝石矿物、材料 科学、地质研究、文物考古等诸多领域。
一、基本原理
X 射线是一种波长(入二 0.001~10nm)很短的电磁波,其波长介于紫外线和 Y 射线之 间。在高真空的 x 射线管内,当由几万伏高电压加速的一束高速运动的电子流投射到阳极 金属靶(如钨靶、铜靶等)上时,电子的动能部分转变成 x 光辐射能,并以 x 射线形式辐射 出来。从金属靶射出的 X 射线主要由两类波长、强度不等的 x 射线组成,即连续 x 射线谱 及特征 x 射线谱。前者指在 x 射线波长范围内,由其短波限开始并包括各种 x 射线波长所 组成的光谱。后者则指当加于 x 光管的高电压增至一定的临界数值时,使高速运动的电子 动能足以激发靶原子的内层电子时,便产生几条具一定波长且强度很大的谱线,并叠加在 连续 x 射线谱上,由特征 x 射线组成的光谱称为特征 x 射线谱。
特征 x 射线谱源自原子内层电子的跃迁。当高速运动的电子激发原子内层电子,而导 致 x 射线的产生,这种 X 射线称为“初级 X 射线”。若以初级 x 射线为激发手段,用以照 射宝石样品,会造成宝石的原子内的电子发生电离,使内层轨道的电子脱离原子,形成一 个电子空位,原子处于“激发态”,这样外层电子就会自动向内层跃迁,填补内层电子空 位,进而发射出一定能量的 x 射线。由于它的波长和能量与原来照射的 x 射线不同,即发 出“次级 X 射线”。人们将这种由于 x 射线照射宝石而产生的次级 x 射线称 X 射线荧光。 通常,X 射线荧光只包含特征 X 射谱线,而缺乏连续 X 射线谱。
当能量高于原子内层电子结合能的高能 x 射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 lO-12 一 lO-14秒,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为弛豫过程。弛豫过程 既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量 随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光 电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐 射的能量无关。当较外层的电子跃人内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐 射形式放出,便产生 X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X 射线荧光的 能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。图 2-2-1 给出了 X 射线荧光和俄歇电 子产生过程示意图。
K 层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线, 称为 K 系谱线。由 L 层跃迁到 K 层辐射的 X 射线叫 Ka 射线,由 M 层跃迁到 K 层辐射的 X 射线叫 K? 射线。同样,L 层电子被逐出可以产生 L 系辐射。如果入射的 X 射线使某元素的 K 层电子激发成光电子后 L 层电子跃迁到 K 层,此时就有能量?E 释放出 来,且?E=EK 一 EL,这个能量是以 X 射线形式释放,产生的就是 Ka 射线,同样还可以产 生 K? 射线、L 系射线等。
莫斯莱(MoseleyHG,1913)发现,X 射线荧光的波长入与元素的原子序数 Z 有关,随 着元素的原子序数的增加,特征 x 射线有规律的向短波长方向移动。他根据这种谱线移动 规律,建立了关于 X 射线波长与其元素原子序数的关系定律,其数学关系如下:
式中 K 和 S 是常数。因此,只要测出荧光 X 射线的波长,就可以知道元素的种类, 这就是荧光 X射线定性分析的基础。此外,荧光 x 射线的强度与相应元素的含量有一定的 关系,据此,可以进行元素定量分析。
二、X 射线荧光光谱仪
自然界中产出的宝石通常由一种元素或多种元素组成,用 X 射线照射宝石时,可激 发出各种波长的荧光 X 射线。为了将混合在一起的 X 射线按 波长(或能量)分开,并分别测量不同波长(或能量)的 X 射 线的强度,以进行定性和定量分析,常采用两种分光技术。
其一是波长色散光谱仪。它是通过分光晶体对不同波 长的 x
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