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MOS 管主要参数
1.开启电压VT
·开启电压(又称阈值电压):使得源极S 和漏极 D 之间开始形成导电沟道所需的栅极
电压;
·标准的N 沟道MOS 管,VT 约为3~6V;
·通过工艺上的改进,可以使MOS 管的VT 值降到2~3V。
2. 直流输入电阻RGS
·即在栅源极之间加的电压与栅极电流之比
·这一特性有时以流过栅极的栅流表示
·MOS 管的RGS 可以很容易地超过1010Ω。
3. 漏源击穿电压BVDS
·在VGS=0 (增强型)的条件下,在增加漏源电压过程中使ID 开始剧增时的VDS 称
为漏源击穿电压BVDS
·ID 剧增的原因有下列两个方面:
(1)漏极附近耗尽层的雪崩击穿
(2)漏源极间的穿通击穿
·有些MOS 管中,其沟道长度较短,不断增加VDS 会使漏区的耗尽层一直扩展到源区,
使沟道长度为零,即产生漏源间的穿通,穿通后
,源区中的多数载流子,将直接受耗尽层电场的吸引,到达漏区,产生大的ID
4. 栅源击穿电压BVGS
·在增加栅源电压过程中,使栅极电流IG 由零开始剧增时的VGS,称为栅源击穿电压
BVGS。
5. 低频跨导gm
·在VDS 为某一固定数值的条件下 ,漏极电流的微变量和引起这个变化的栅源电压微
变量之比称为跨导
·gm 反映了栅源电压对漏极电流的控制能力
·是表征MOS 管放大能力的一个重要参数
·一般在十分之几至几mA/V 的范围内
6. 导通电阻RON
·导通电阻RON 说明了VDS 对ID 的影响 ,是漏极特性某一点切线的斜率的倒数
·在饱和区,ID 几乎不随VDS 改变,RON 的数值很大 ,一般在几十千欧到几百千欧
之间
·由于在数字电路中 ,MOS 管导通时经常工作在 VDS=0的状态下,所以这时的导通
电阻RON 可用原点的RON 来近似
·对一般的MOS 管而言,RON 的数值在几百欧以内
7. 极间电容
·三个电极之间都存在着极间电容:栅源电容CGS 、栅漏电容CGD 和漏源电容CDS
·CGS 和CGD 约为1~3pF
·CDS 约在0.1~1pF 之间
8. 低频噪声系数NF
·噪声是由管子内部载流子运动的不规则性所引起的
·由于它的存在,就使一个放大器即便在没有信号输人时,在输出端也出现不规则的电
压或电流变化
·噪声性能的大小通常用噪声系数NF 来表示,它的单位为分贝(dB)
·这个数值越小,代表管子所产生的噪声越小
·低频噪声系数是在低频范围内测出的噪声系数
·场效应管的噪声系数约为几个分贝,它比双极性三极管的要小
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