GB/T 36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法　XRD法.pdf

ICS31.030 L90 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT36655 2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中 态晶体 α 二氧化硅含量的测试方法 XRD法 Testmethodforalhacrstallinesilicondioxidecontentofshericalsilica p y p — owderforelectronic ackain XRDmethod p p g g 2018-09-17发布 2019-01-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 中国国家标准化管理委员会 / — GBT36655 2018 前 言 本标准按照 / — 给出的规则起草。 GBT1.1 2009 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会( / )提出并归口。 SACTC203 : 、 、 本标准起草单位 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 江苏联瑞新材料股份有限公司 汉高 华威电子有限公司。 : 、 、 、 、 、 、 、 。 本标准主要起草人 封丽娟 李冰 陈进 夏永生 曹家凯 吕福发 阮建军 王松宪 Ⅰ / — GBT36655 2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中 态晶体 α 二氧化硅含量的测试方法 XRD法 1 范围 本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中 态晶体二氧化硅含量的 测试方法。 α XRD , 本标准适用于电子封装用球形