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《材料分析测试技术》试卷（答案）

一、填空题：（20分，每空一分）

1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。

2.X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、

和热。

3.德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。

4.X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥

氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。

5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。

6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。

7.电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。

8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。

二、选择题：（8分，每题一分）

1.X射线衍射方法中最常用的方法是（b）。

a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。

2.已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。

a．Co；b.Ni；c.Fe。

3.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c）。

a．哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.戴维无机字母索引。

4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。

a．第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.选区光阑。

5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b）。

a．球差；b.像散；c.色差。

6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。

a．高阶劳厄斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点。

7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的

信号是（b）。

a．背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。

8.中心暗场像的成像操作方法是（c）。

a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至

中心并以物镜光栏套住透射斑。

三、问答题：（24分，每题8分）

1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？

答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小

适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一

个最佳厚度（t=

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2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在

材料科学中有什么应用？

答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记

录系统。

透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍

射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线

探头、二次电子探头等以增加成分分析