SJT 11699-2018 IP核可测性设计指南.pdf
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SJ_T 11699-2018IP核可测性设计指南.pdf
ICS 31. 200L 55备案号：SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T11699—2018IP核可测试性设计指南Guidelines for design for testability of IP cores2018-02-09 发布2018-04-01实施发布中华人民共和国工业和信息化部
SJ/T11699—2018次目III前言范围12术语和定义3缩略语.4般性指南4.1概述.R4.2P核的测试包的ATION成低功耗）4.3IP核的静态模式中略的可测试性设计4.4IP核内逻4.5存储器BISTECHNOL模拟电路4.6P核试模式4.7IP核测试时序S5.1概达5.2 测试信号与时钟
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高速串行通信接口IP的可测性设计.docx
高速串行通信接口IP的可测性设计
一、引言
随着现代电子系统的复杂性日益增加，高速串行通信接口IP（智能产权）的可测性设计变得尤为重要。这不仅是确保系统稳定性和可靠性的关键，也是提升产品品质和用户体验的重要手段。本文将详细探讨高速串行通信接口IP的可测性设计，包括其重要性、设计原则、实现方法和应用前景。
二、高速串行通信接口IP的可测性设计的重要性
在电子系统中，高速串行通信接口IP负责数据的传输和交换。其性能的优劣直接影响到整个系统的运行效率和稳定性。因此，对高速串行通信接口IP进行可测性设计，不仅可以提前发现和解决潜在的问题，还可以在产品交付后提供有力的技术支持。此外，可测性设计还有助于降
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可测性设计技术.doc
可测性设计技术
摘要
本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计之间的关系出发，将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起，文中简要介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，发展趋势，可测试性设计的内涵、意义和分类，并且探讨了可测性设计的实现方法。
关键词：可测性设计，自动测试生产，扫描技术，边界扫描技术，嵌入式自测试。
1可测性设计技术概述
可测性的起源于发展过程
20世纪70年代，美军在装备维护过程中发现，随着系统的复杂度不断提高，经典的测试方法已不能适应要求，甚至出现测
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可测性设计-2.ppt
2.3 测试性/BIT通用设计准则 电子功能结构设计 电子功能划分 测试控制 测试通路 元器件选择 模拟电路设计 VLSI和微处理器 射频电路设计 数字电路设计 可观性设计准则（续） 利用PCB板上的LED显示来指示重要电路的正常工作 对关键的故障指示和显示器，应提供可选择的测试方法，如“按钮测试”，以有效验证其工作 用多路转换器减少故障隔离的边缘连接器输出端数、调整点和测试点 尽量避免采用余度电路，因为从输出端无法定位哪个余度发生了故障 尽量避免用线“与”或线“或”连接（否则会产生模糊隔离问题），把线与连接分为较小的隔离模糊组 减少隔离模糊度的设计 机内测试 性能监控 测试要求 测试数据
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芯片的可测性设计DFT.doc
芯片的可测性设计DFT
有些设计师有时会忽略设计出来的芯片是否能够顺利的被制造出来应用到产品中，他们往往更关注指标是否达到，先考虑设计再考虑测试，但随着电路复杂程度的提高，这种方法既费时又费力，并且往往造成制造过程中的一些不可预见的测试问题。解决芯片测试的根本方法是在芯片设计时就充分考虑到测试的要求，即在设计阶段就开始考虑如何对电路进行测试，并将一些可测性技术引入到芯片中，以降低测试方法的复杂性，这就是可测性设计(DFT，Design For Testability )。
可测性设计是在满足芯片正常功能的基础上，通过有效地加入测试电路，来降低芯片的测试难度，降低测试成本。同时，可测性并不是指
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可测性设计_经典讲解.doc
可测性设计
随着片上系统（SoC：System on Chip）的集成度越来越高，其测试可行性、测试时间和测试功耗越来越受到人们的关注。本章介绍有关测试和可测性设计的一些基本概念。其中，可测性设计包括存储器的内建自测，扫描测试，处理器核的测试和边界扫描测试等，并且通过具体的应用让读者加深对可测性设计的理解。
集成电路（IC：Integrated Circuit）测试概述
测试的概念和原理
集成电路测试是产业链中的重要一环，而且是不可或缺的一环它贯穿于从产品设计开始到完成加工的全过程。根据测试的目的不同，可以把集成电路测试分为四种类型：
验证测试（erification Testing，也称作e
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IP核可测性设计中扫描链插入与测试封装加载研究的开题报告.docx
IP核可测性设计中扫描链插入与测试封装加载研究的开题报告
一、研究背景和意义
随着集成电路的不断发展，芯片在设计、制造和测试过程中所需的时间和资源越来越多。为了减少这些成本，IP核可测性设计成为了重要的研究方向。在IP核可测性设计中，扫描链插入和测试封装加载是两个非常重要的步骤。通过扫描链插入，可以使芯片的测试变得更加高效和自动化；而测试封装加载则可以实现芯片的测试和调试。因此，研究扫描链插入和测试封装加载对于芯片设计和测试具有重要意义。
二、研究内容和目标
本文将研究扫描链插入和测试封装加载技术，并分析它们在IP核可测性设计中的应用。具体内容如下：
（1）分析扫描链插入的原理和实现方式，比较
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DFT(可测性设计、制造测试)[规整].pptx
DFT(可测性设计、制造测试)概述DFT(DesignforTestability)是一种旨在提高电子产品可测试性的设计方法。它包括可测性设计和制造测试两个方面,通过优化电路结构、增加测试点等手段,提高产品的可测试性,以减少测试复杂度和成本,提高产品质量。BabyBDRR
可测性设计的重要性提高产品质量良好的可测性设计有助于及时发现并修复设计缺陷,从而大幅提高产品的质量和可靠性。降低测试成本通过增加测试点和优化测试流程,可测性设计可以显著减少测试所需的时间和人力成本。提高产品竞争力出色的可测性设计能帮助产品快速上市并及时响应客户需求,从而提高产品的市场竞争力。促进技术进步可测性设计的发
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VLSI测试及可测性设计方法1.ppt
VLSI测试及可测性设计方法 杨 莲 兴 MobileEmail： lianxingyang@fudan.edu.cn 教 学 参 考 书 《超大规模集成电路测试》-数字、存储器和混合信号系统， 电子工业出版社， 蒋安平、冯建华、王新安译 《数字系统测试与可测性设计》， 机械工业出版社， 李华伟、鲁巍译 《数字系统的故障诊断与可靠性设计》， 清华大学出版社， 杨士元编著 《超大规模集成电路测试》（VLSI测试方法学和可测性设计）， 电子工业出版社， 雷绍充、邵志标、梁峰著 《最新集成电路测试技术》， 国防工业出版社， 高成、
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VLSI测试及可测性设计方法2.ppt
第二章 组合电路测试图形生成算法介绍 第 二 章 内 容 故障模型 通路敏化法 布尔差分法 D算法 伪穷举法 特征分析法 第一节 故 障 模 型 1.固定故障（Stuck-At-Fault） 固定值故障：某一节点（包括输入或输出）的 逻辑值固定在“1”或“0”。 Stuck-At-1：节点逻辑值固定在“1”。 Stuck-At-0：节点逻辑值固定在“0”。 2.固定开路，固定短路故障 （Switch-Level-Fault） 固定开路：晶体管一直维持截止状态。 固定短路：晶体管一直维持导通状态。 3.桥接故障（Bridging Fault）
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VLSI测试及可测性设计方法3.ppt
第 三 章 时 序 电 路 的 测 试 第一节 时序电路的功能验证测试 系统的功能核实序列一般应包括下述几种序列： 同步序列XS (synchronizing sequence)：同步序列是将系统从任意状态转移到同一个已知末态的序列。但并非每个系统都存在同步序列。 引导序列XH (homing sequence)：可以使系统从一个未知状态“引导”到某些已知的末态（可根据不同的响应序列来判定末态，的输入序列。 区分序列XD(distinquishing sequence)：能够根据不同的响应序列（输出序列）来区分系统的初态和末态的输入序列叫做区分序列。区分序列也不是每个系统都存在的
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VLSI测试及可测性设计方法4.ppt
第 四 章 可 测 性 设 计 容易测试的电路的含义 测试生成、施加和分析应在预定的成本和时间内完成。 在满足测试覆盖率的条件下测试图形的长度应尽可能短。 可 测 性 定 义 Bennetts于1984年提出： “A digital IC is testable if test patterns can be generated, applied, and evaluated in such a way as to satisfy predefined cost budget and time scale.” 可测性概念包括两方面内容 电路内的故障是否可以用有限的测试图形来检测或定位。 故障
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西电微电子可测性设计.pdf
SCHOOL OF MICROELECTRONICS
SCHOOL OF MICROELECTRONICS
2 故障模型与模拟仿真
2 故障模型与模拟仿真
缺陷、失效、故障
缺陷、失效、故障
defect、failure、fault
defect、failure、fault
缺陷－电路物理结构改变
MOS表面及衬底效应、表面电势、金属化及金属半导
体、电迁移、封装相关
失效－电路不能正常工作
永久失效、暂时失效
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SJT 10566-1994可测性总线:第1部分:标准测试存取口与连界扫描结构.pdf
SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10566-94可测性总线第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构Testability busPart I : Standard test access port andboundary scan architecture1994-12-01实施1994-08-08发布中华人民共和国电子工业部•发 布
目次(1)1主题内容与适用范围(1)主题内容1. 1(1)1. 2适用范围(1)2概述(1)操作概述2.1(2)2.2组装产品的测试应用(4)2.3其它目标的测试应用·(4)本标准结构2.4(4)2.5约定(5)2.6术语(7)3测试存取口(8)3.1形成
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GPS基带芯片的可测性设计和后端设计的开题报告.docx
GPS基带芯片的可测性设计和后端设计的开题报告
一、选题背景
GPS（GlobalPositioningSystem）是一种基于卫星信号的全球定位系统，广泛应用于导航、物流、地图、军事等领域。GPS的工作原理是通过接收卫星发出的信号，计算出接收器与卫星间的距离，从而确定接收器的位置。GPS基带芯片作为GPS接收器的核心组成部分，负责接收、处理、解读卫星信号，并将其转化为数字信号供后续处理使用。
在GPS基带芯片的设计中，可测性是一项重要的设计指标。可测性是指设计的电路能否被有效地测试和检测，以保证电路的可靠性和性能。在基带芯片的设计中，可测性设计旨在实现以下目标：
1.提高测试覆盖率：通过设计