《RFID标签天线测试架设计》.pdf

维普资讯 第24卷第4期 微 波 学 报 Vo1．24 No．4 2008年 8月 JOURNALOFMICROWAVES Aug．2008 文章编号：1005-6122(2008)04-0049-04 RFID标签天线测试架设计 孙 静 房志江 耿军平 金荣洪 (上海交通大学电子工程系，上海 200240) 摘 要： 针对 RFID标签天线性能参数测试困难的问题 ，提出了平面结构的天线测试架的构想，设计并制作了 一 个实际的测试架。测试架包括平衡／不平衡转换器和阻抗匹配网络两部分 ，仿真和实验结果吻合得很好 ，能够实 现对弯折线偶极子标签天线的输入阻抗、方向图和增益等参数准确的测量 ，并为其他小型平衡馈电天线的测试提供 了参考。 关键词： RFID标签天线 ，巴伦，阻抗匹配网络 TheDesign ofaTestboardforRFID TagAntenna SUNJing．FANGZhi-jiang，GENGJun-ping，JINRong-hong (DepartmentofElectronicEngineering，ShanghaiJiaotongUniversity，Shanghai200240，China) Abstract： Inthispaper，adesignconceptoftheplanartestboardisproposedtosolvetheproblem ofRFIDtagantenna testing．A practical testboardisdesignedandmanufactured．ThetestboardcomposesofaBalunandanimpedancematching network．Thegoodagreementbetweenthesimulationandthemeasurementresultsshowsthatthetestboardcanbeusedtotest theinputimpedance．radiationpatternsandgainsofthemeander—linedipoletagantennaaccurately，whichalsoprovidesa testingschemeofothersmall—sizeantennaswithbalancedfeed． Keyw0rds： RFID tagantenna，Balun，Impedancematchingnetwork 实现共轭匹配，天线的输入阻抗存在较高的感性分 引 言 量，并且标签天线本身的尺寸很小，这些都为标签天 RFID技术近年来发展十分迅速，尤其是 UHF 线的测量带来 了困难。目前大多以有源标签模仿 频段和微波频段的RFID技术，因其可实现远距离 器 取代标签进行测量，还有些文献给出了测试床 识别已引起广泛重视…。由于读头天线的灵敏度 的设计思想 J，为RFID通信链路的性能测量提供 远远高于标签天线，标签天线的性能对整个 RFID 了很好的方案，但对于标签天线本身的性能还没有 通信系统至关重要。而且标签天线数量众多，因此 很有效的测量手段，通常将设计的天线连接到芯片 在研究标签天线传播特性以及影响标签性能的环境 上进行测量，这种方法无法准确地知道天线的性能 因素的过程中，准确测量天线参数是相当重要的。 参数 。 所以设计一个可以准确测量标签天线性能参数的测