用于高反光表面测量的结构光三维测量系统校准方法.pdf

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CSOE

中国光学工程学会团体标准

T/CSOE0008—2025

用于高反光表面测量的结构光三维测量系

统校准方法

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（征求意见稿）

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XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中国光学工程学会  发布

T/CSOE0008—2025

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4高反光球标准器校准法2

4.1校准原理2

4.2校准装置3

4.3校准条件3

4.4校准方法3

4.5测量不确定度4

5高反光球棒标准器校准法4

5.1校准原理4

5.2校准装置5

5.3校准条件5

5.4校准方法5

5.5测量不确定度6

6高反光平面标准器校准法6

6.1校准原理6

6.2校准装置7

6.3校准条件7

6.4校准方法8

6.5测量不确定度8

7高反光三平面组合标准器校准法8

7.1校准原理8

7.2校准装置9

7.3校准条件9

7.4校准方法9

7.5测量不确定度10

8校准结果10

9复校时间间隔10

附录A（资料性）不确定度评定示例11

I

T/CSOE0008—2025

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国光学工程学会提出并归口。

本文件起草单位：北京航空航天大学、成都飞机工业（集团）有限责任公司、北京航天计量测试技

术研究所、北京长城计量测试技术研究所、北京卫星制造厂有限公司、长春理工大学等。

本文件主要起草人：赵慧洁、姜宏志、李旭东、李本军、朱绪胜、缪寅宵、吴桐、杨永军、孙安斌、

刘丽霞、唐小军、董科研等。

II

T/CSOE0008—2025

用于高反光表面测量的结构光三维测量系统校准方法

1范围

本标准给出了高反光球标准器校准法、高反光球棒标准器校准法、高反光平面标准器校准法、高反

光三平面组合标准器校准法校准高反光表面结构光三维测量系统测量精度的校准原理、校准装置、校准

条件和校准方法。

本标准规定了高反光表面结构光三维测量系统的校准结果和复校时间间隔要求。

本标准适用于以高反光表面、多次反光表面为测量对象时结构光三维测量系统测量精度的校准。

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