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材料科学与工程：材料微观结构分析_（10）.原子力显微镜技术.docx

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原子力显微镜技术

引言

原子力显微镜（AtomicForceMicroscopy,AFM）是一种高分辨率的表面分析技术，广泛应用于材料科学与工程领域。AFM可以在纳米尺度上提供材料表面的三维形貌信息，对于研究材料的微观结构、表面性质和力学性能具有重要意义。本节将详细介绍原子力显微镜的基本原理、操作方法、数据处理以及人工智能技术在AFM数据分析中的应用。

原子力显微镜的基本原理

1.1工作模式

原子力显微镜有多种工作模式，常见的包括接触模式（ContactMode）、间歇接触模式（IntermittentContactMode）和非接触

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