半导体缺陷的判断方法、计算机设备以及可读存储介质.pdf
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114792638 A
(43)申请公布日 2022.07.26
(21)申请号 202210452724.4
(22)申请日 2022.04.27
(71)申请人 长鑫存储技术有限公司
地址 230
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