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半导体缺陷的判断方法、计算机设备以及可读存储介质.pdf

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114792638 A (43)申请公布日 2022.07.26 (21)申请号 202210452724.4 (22)申请日 2022.04.27 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230
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