非易失存储器的可靠性测试方法及装置.pdf
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114550802 A
(43)申请公布日 2022.05.27
(21)申请号 202210102045.4
(22)申请日 2022.01.27
(71)申请人 中国科学院微电子研究所
地址 10
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