测量硅抛光片表面铁含量的方法.pdf
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112816424 A
(43)申请公布日 2021.05.18
(21)申请号 202110068574.2
(22)申请日 2021.01.19
(71)申请人 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司
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