SPC讲义(LMC1)解析.ppt

* 持续过程能力研究 PpK的计算 * 过程能力研究 Cpk 的定义（能力指数） 对稳定过程进行的持续过程能力研究。 TS16949 要求 CpK 必须 大于或等于1.33。 * 过程能力研究 CpK 的计算 Improved performance begins with knowledgeable people... World Class Quality Pty Ltd * Improved performance begins with knowledgeable people... World Class Quality Pty Ltd * Improved performance begins with knowledgeable people... World Class Quality Pty Ltd * Improved performance begins with knowledgeable people... World Class Quality Pty Ltd * * 标准的正态分布 * 规格范围 合格概率 缺陷概率 +/-1 68.27% 31.73% +/-2 95.45% 4.55% +/-3 99.73% 0.27% +/-4 99.994% 0.0063% +/-5 99.99994% 0.000057% +/-6 99.9999998% 0.000000198% σ σ σ σ σ σ 下表为不同的标准差值对应的合格概率和缺陷概率: * 统计过程控制 计量型 SPC 图 我们将主要研究的计量型SPC图为： 均值和极差图 ( 和R图） * －R图 何时使用 －R图 当有测量数据时 为了确定过程偏差 当您能获得一个大小不变的子组时，子组数大小在2－9个连续零件之间 当每件零件是在相似的条件之下而且是在很短的时间间隔生产出来时。 * 计算 －R图参数的方法： 1. 确定子组的大小，一般在2－9件零件之间。 2. 确定进行测量的频率。 3. 收集数据。 4. 计算每个子组的平均值并将结果记录下来。 5. 确定每个子组的极差并将结果记录下来。 6. 在图上标出平均值和极差。 7. 计算上控制线和下控制线。（在试生产时计算） 8. 对图进行解释。 － R 图 * －R图 我们用以下运算法则计算控制线： 其中K为子 组数 和 * －R图 D4, D3 和 A2 的值 l?????????? 对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限。 * 分析控制图 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 X 图 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 X 图 * X 图上的数据点超出上下控制界限的可能原因： 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点上升 X 图 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点下降 X 图 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控制中限的下方 X 图 * Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控