【英/法语版】国际标准 IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 EN-FR Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Omega;/150 Omega; direct coupling method 修正案1 - 集成电路 - 电磁辐射测量.pdf

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IEC61967-4:2002/AMD1:2006EN-FRAmendment1-集成电路-电磁辐射的测量，150kHz到1GHz-第4部分：传导辐射的测量-1Omega;/150Omega;直接耦合方法是一个国际标准，专门用于测量集成电路在150kHz到1GHz频率范围内的传导电磁辐射。这个标准提供了关于如何执行这种测量的详细说明和指导。

具体来说，它描述了如何设计和实施一个测试系统，该系统能够模拟实际使用中的电路，并测量电磁辐射的强度。这个标准特别关注直接耦合方法，这是一种测量传导辐射的技术，其中电磁干扰（EMI）直接从电路传输到测量设备，而不是通过空气或其他中介介质传播。

该标准还考虑了测量环境的许多因素，包括温度、湿度和气压，因为这些因素可能会影响电磁辐射的强度。它还规定了如何处理和解释测量结果，以确保结果的准确性和可靠性。

IEC61967-4:2002/AMD1:2006EN-FRAmendment1提供了一种标准化和一致的方法，用于测量集成电路在电磁兼容性方面的性能，特别是在高频下的传导电磁辐射。