【英/法语版】国际标准 IEC 61967-2:2005 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method 集成电路 - 电磁辐射发射的测量, 150 kHz至1 GHz - 第2部分:辐射发射测量 - TEM细.pdf
以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。
IEC61967-2:2005EN-FR集成电路-电磁辐射的测量,150kHz到1GHz-第2部分:辐射电磁场的测量-TEM单元和宽频带TEM单元法（英文原版）
IEC61967-2标准是一套针对电子设备的电磁辐射测量标准的规范。IEC61967系列标准主要关注电子设备在运行过程中产生的电磁辐射，这些辐射可能会对周围的电子设备产生干扰。IEC61967-2:2005EN-FRIntegratedcircuits是该系列标准的一部分，主要针对集成电路的电磁辐射测量。
在IEC61967-2标准中，电磁辐射的测量范围被定义为150kHz到1GHz的频率范围。在这个频率范围内，电子设备的电磁辐射强度和频谱分布是评估设备性能的重要参数。
TEMcell和widebandTEMcellmethod是两种主要的测量方法，用于评估电子设备的辐射电磁场。TEMcell方法是一种基于测试腔体的测量方法，它通过将待测设备放入一个封闭的测试腔体中，测量腔体外部的电磁场强度。这种方法适用于评估设备的整体辐射性能，包括辐射功率、辐射方向性和辐射频谱等参数。widebandTEMcellmethod是一种宽频带TEM细胞法，它通过在宽频带上对设备的电磁辐射进行测量，从而得到设备的辐射特性。这种方法可以更全面地评估设备的辐射性能，包括辐射功率、频谱宽度、相位特性等参数。
IEC61967-2:2005EN-FRIntegratedcircuits标准是一套针对集成电路的电磁辐射测量的重要标准，TEMcell和widebandTEMcellmethod是两种主要的测量方法，用于评估电子设备的辐射电磁场。通过这些测量方法，可以了解电子设备的电磁辐射特性，从而保证电子设备在运行过程中不会对周围设备产生不利的干扰。