第5章 光接收机.ppt
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人民邮电出版社 第5章 光接收机 5.1 半导体光电检测器 光电检测器是光纤通信系统中接收端机中的第一个部件,由光纤传输来的光信号通过它转换为电信号。它是利用材料的光电效应实现光电转换的。 目前在光纤通信系统中,常用的半导体光电检测器有两种,一种是PIN光电二极管,另一种是APD雪崩光电二极管。 5.1 半导体光电检测器 5.1.1 半导体的光电效应 5.1.2 光纤通信中常用的半导体光电检测器 5.1.3 光电检测器的特性 5.1.1 半导体的光电效应 半导体材料的光电效应是指如下这种情况:光照射到半导体的P-N结上,若光子能量足够大,则半导体材料中价带的电子吸收光子的能量,从价带越过禁带到达导带,在导带中出现光电子,在价带中出现光空穴,即光电子—空穴对,又称光生载流子。 5.1.1 半导体的光电效应 半导体材料的光电效应 5.1.1 半导体的光电效应 当光照射在某种材料制成的半导体光电二极管上时,若有光电子—空穴对产生,显然必须满足如下关系,即 λc称为截止波长,fc称为截止频率。 5.1.2 光纤通信中常用的半导体光电检测器 1.PIN光电二极管 2.APD雪崩光电二极管 1.PIN光电二极管 PIN光电二极管能带图 1.PIN光电二极管 PIN光电二极管结构示意图 2.APD雪崩光电二极管 如果能使电信号进入放大器之前,先在光电二极管内部进行放大,这就引出了一种另外类型的光电二极管,即雪崩光电二极管,又称APD(Avalanche Photo Diode)。 它不但具有光/电转换作用,而且具有内部放大作用,其内部放大作用是靠管子内部的雪崩倍增效应而完成的。 2.APD雪崩光电二极管 (1)雪崩光电二极管的雪崩倍增效应 (2)雪崩光电二极管的结构及其工作原理 雪崩光电二极管随使用的材料不同有几种:Si—APD(工作在短波长区);Ge—APD,InGaAs—APD等(工作在长波长区)。 2.APD雪崩光电二极管 雪崩光电二极管的结构和能带示意图 5.1.3 光电检测器的特性 1.响应度R0和量子效率η 2.响应时间 3.暗电流ID 4.雪崩倍增因子G 5.倍增噪声和过剩噪声系数F(G) 1.响应度R0和量子效率η 响应度和量子效率都是描述这种器件光电转换能力的一种物理量。 (A/W) 光电二极管的响应度和量子效率与入射光波频率有关。 2.响应时间 响应时间是指半导体光电二极管产生的光电流随入射光信号变化快慢的状态。 一般用响应时间(上升时间和下降时间)来表示。 一个快速响应的光电检测器,它的响应时间一定是短的。 上面讨论的响应时间是从时域角度来看的,若从频域角度看,短的响应时间即意味这个器件的带宽宽。 3.暗电流ID 理想条件下,当没有光照射时,光电检测器应无光电流输出。但是实际上由于热激励、宇宙射线或放射性物质的激励,在无光情况下,光电检测器仍有电流输出,这种电流称为暗电流。 3.暗电流ID 严格地说,暗电流还应包括器件表面的漏电流。 由理论研究可知,暗电流将引起光接收机噪声增大。因此,器件的暗电流越小越好。 4.雪崩倍增因子G 雪崩光电二极管还有一个与雪崩倍增效应对应的参量—雪崩倍增因子。 在忽略暗电流影响条件下,它定义为 一般APD的倍增因子G在40~100之间。PIN光电管因无雪崩倍增作用,所以G=1。 5.倍增噪声和过剩噪声系数F(G) 从物理概念上容易理解,雪崩光电二极管的倍增是具有随机性的。 这种随机性的电流起伏将带来附加噪声,一般称为倍增噪声。 倍增噪声可以用过剩噪声系数F(G)来描述为 5.2光接收机 5.2光接收机 ① 光电检测器 光电检测器的作用是将由发送光端机经光纤传过来的光信号转变为电信号,即具有光/电转换功能。 目前广泛使用的光电检波管是PIN管和雪崩光电二极管,前者称为半导体光电二极管后者又称为APD管。后者具有信号放大的作用。 5.2 光接收机 ② 前置放大器 由于这个放大器与光电检测器紧紧相连,故称前置放大器。 对多数放大器的前级提出特别的要求是非常必要的,它应具有低噪声、高增益的特性,这样才能得到较大的信噪比。 由于跨阻型前置放大器不仅具有宽频带、低噪声的优点,而且其动态范围也比高阻型前置放大器改善很多,因此在光纤通信中得到广泛的使用。 5.2光接收机 1319型高速光纤接收组件 5.2光接收机 ③ 放大器 主放大器的作用有下述两个方面。 将前置放大器输出的信号放大到判决电路所需要的信号电平。 它还是一个增益可调节的放大器。 一般主放大器的峰—峰值输出是几伏数量级。 5.2光接收机 ④ 均衡器 拖尾现象 采用均衡器来使经过其后的波形
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