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用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法.pdf

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114873340 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210391955.9 (22)申请日 2022.04.14 (71)申请人中国原子能科学研究院地址 102

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