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集成电路中重离子致单粒子翻转软错误率的检测方法.pdf

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114880984 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210391310.5 (22)申请日 2022.04.14 (71)申请人 中国人民解放军国防
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