YD_T 1688.3-2011xPON光收发合一模块技术条件 第3部分：用于GPON 光线路终端/光网络单元 （OLT/ONU）的光收发合一模块.pdf

ICS 33.180.01M33中华人民共和国通信行业标准YD/T 1688.3-2011xPON光收发合一模块技术条件第3部分：用于GPON光线路终端/光网络单元(OLT/ONU)的光收发合一模块Technical specification of optical transceiver module for xPONPart 3: Optical transceiver module for GPON OLT/ONU2011-06-01 发布2011-06-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布 YD/T 1688.3-2011目次前B范围12规范性引用文件3缩略语、术语和定义：4要求·5测试方法6可靠性试验·107检验规则·118标志、包装、运输和贮存•13附录A（规范性附录）GPON光模块上行方向OLT的灵敏度、过载光功率测试方法-14附录B（资料性附录）带监测功能的GPON光模块监测功能要求··16附录C（资料性附录）GPON光模块外形尺寸及引出管脚排列· YD/T1688.3-2011前言《xPON光收发合一模块技术条件》分为以下4个部分：-第1部分：用于APON（BPON）光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块；一第2部分：用于EPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块；一第3部分：用于GPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块；一第4部分：用于10GEPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块。本部分为《xPON光收发合一模块技术条件》的第3部分。本部分在制定过程中，光接口参数主要参考下列标准：ITU-TG.983.1-1998基于无源光网络的宽带光接入系统;-ITU-TG984.2-2003吉比特无源光网络（GPON）物理媒质相关（PMD）层规范；-ITU-TG984.2增补1-2006《增补1：附录II-GPON下行2.488Gbit/s、上行1.244Gbit/s 的最佳实践》;-ITU-TG984.2增补2-2008《增补2：吉比特无源光网络（GPON）物理媒质相关（PMD）子层规范》；-ITU-TG.984.5-2007《带宽扩展的吉比特无源光网络GPON》。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则进行起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中国通信标准化协会提出并归口。本部分起草单位：武汉邮电科学研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司、华为技术有限公司、中兴通讯股份有限公司。本部分主要起草人：秦巍、李春芳、雷岚、梁臣桓、宋梦洋、徐红春、徐继东、高建河。1 YD/T 1688.3-2011xPON光收发合一模块技术条件第3部分：用于GPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块1范围本部分规定了用于GPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）光收发合一模块的术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本部分适用于GPON光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）光收发合一模块，以下简称“GPON光模块”。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 2828.1-2003计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T9771（所有部分）通信用单模光纤YD/T 1250-2003接入网测试方法-基于ATM的无源光网络（A-PON）YD/T 1526.1-2006接入网用单纤双向三端口光收发一体模块技术条件第1部分：用于宽带无源光网络（BPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光收发一体模块YD/T 1526.3-20xx接入网用单纤双向三端口光收发一体模块技术条件第3部分：吉比特无源光网络（GPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光收发一体模块YD/T 1531-2006接入网设备测试方法一基于以太网方式的无源光网络（EPON)YD/T 1688.1-2007xPON光收发合一模块技术条件第1部分：用于APON（BPON）光线路终端/光网络单元（OLT/ONU）的光收发合一模块SJ/T 11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求SJ/T 11364-2006电子信息产品污染控制标识要求MIL-STD-202G:2002E电子和电气元件试验方法标准（Test method standard electronic and electricalcomponent parts )MIL-STD-883H:2010微电子器件试验方法标