一种测试良率管控方法、系统、计算机设备及存储介质.pdf
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116402385 A
(43)申请公布日 2023.07.07
(21)申请号 202310323263.5
(22)申请日 2023.03.29
(71)申请人 上海芯丑半导体设备有限公司
地址
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