文档详情

一种多芯片兼容测试方法及装置.pdf

发布：2023-06-02约9.52千字共8页下载文档

文本预览下载声明

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112798932 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011626133.1 (22)申请日 2020.12.30 (71)申请人杭州加速科技有限公司

显示全部

相似文档

一种量子芯片测试装置及测试方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114791555 A (43)申请公布日 2022.07.26 (21)申请号 202210063180.2 (22)申请日 2022.01.20 (71)申请人周永杰地址 325000 浙江
2023-05-15 约1.18万字 12页立即下载
一种flash芯片的测试方法及相关装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112799889 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011609761.9 (22)申请日 2020.12.30 (71)申请人杭州涂鸦信息技术有限公司
2023-06-03 约2.1万字 17页立即下载
一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114878591 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210572593.3 G01R 1/067 (2006.01)
2023-05-16 约1.1万字 11页立即下载
一种发光二极管芯片的测试方法 .pdf 一种发光二极管芯片的测试方法--第1页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利说明书 (10)申请公布号CN110544641A (43)申请公布日2019.12.06 (21)申请号CN201810524170.8 (22)申请日2018.05.28 (71)申请人山东浪潮华光光电子股份有限公司地址261061山东省潍坊市高新区金马路9号 (72)发明人李晓明单立英肖成峰任忠祥 (74)专利代理机构济南金迪知识产权代理有限公司代理人杨树云 (51)Int.CI 权利要求说明书说明书幅图 (54)发明名称一种发光二极管芯片的测试方法 (57)摘要本发明涉及一种发光二极管
2025-03-22 约8.99千字 12页立即下载
一种芯片批量测试方法和系统.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112798942 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011586343.2 (22)申请日 2020.12.29 (71)申请人郑州信大捷安信息技术股份有限公
2023-06-04 约1.83万字 16页立即下载
一种测试方法和装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113360377 A (43)申请公布日 2021.09.07 (21)申请号 202110609691.5 (22)申请日 2021.06.01 (71)申请人北京京东振世信息技术有限公司
2023-06-19 约1.99万字 18页立即下载
输入源兼容性测试方法、装置和系统.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113407385 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 20201
2023-06-20 约1.59万字 15页立即下载
芯片的测试方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992264 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110164292.2 (22)申请日 2021.02.05 (71)申请人上海华虹宏力半导体制造有限公司
2023-06-09 约7.63千字 7页立即下载
一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113406473 B (45)授权公告日 2022.03.22 (21)申请号 202110533296.3 (56)对比文件
2023-06-19 约2.26万字 19页立即下载
一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113391970 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 202110772402.3 (22)申请日 2021.07.08 (71)申请人无锡江南计算技术研究所
2023-06-19 约1.72万字 14页立即下载
一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112988489 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110421571.2 (22)申请日 2021.04.20 (71)申请人易兆微电子（杭州）股份有限公司
2023-06-11 约1.8万字 16页立即下载
一种SOC芯片复用管脚的多功能测试方法、装置及系统.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112988495 B (45)授权公告日 2022.06.21 (21)申请号 202110264266.7 审查员王丹 (22)申请日 2021.03.11
2023-06-06 约1.69万字 14页立即下载
集成芯片的高温测试装置及测试方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112824916 A (43)申请公布日 2021.05.21 (21)申请号 20191
2023-06-06 约1.24万字 11页立即下载
信号转接板、芯片测试装置及测试方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113358902 A (43)申请公布日 2021.09.07 (21)申请号 202110645034.6 (22)申请日 2021.06.08 (71)申请人广东利扬芯片测试股份有限公司
2023-06-17 约5.72千字 6页立即下载
一种兼容性测试的方法及装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113392007 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 202110674883.4 (22)申请日 2021.06.17 (71)申请人网易（杭州）网络有限公司
2023-06-21 约2.15万字 22页立即下载