国立彰化师范大学机电工程学系电浆应用实验室.doc
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國立彰化師範大學機電工程學系電漿應用實驗室
National Changhua University of Education Plasma Application Lab
掃瞄式電子顯微鏡
Scanning Electron Microscope
SEM操作說明書
中 華 民 國 九 十 二 年 七 月 二 十 三 日
National Changhua University of Education Plasma Application Lab
目 錄
1、操作驟步各項說明…………………………………………………… 2
2、SEM操作作業系統各項功能解釋………………………………… 3
3、手動操作按鈕………………………………………………………… 4
4、操作鍵盤……………………………………………………………… 5
5、試片觀察範圍………………………………………………………… 8
6、SEM試片準備………………………………………………………… 9
7、鍍金機操作步驟……………………………………………………… 9
8、開機步驟……………………………………………………………… 10
9、關機步驟……………………………………………………………… 11
10、電子顯微鏡操作注意事項…………………………………………… 11
I
國立彰化師範大學機電工程學系電漿應用實驗室
NCUE Department of Mechatronics Engineering plasma Applacation Lab.
電子顯微鏡擺設示意圖
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NCUE Department of Mechatronics Engineering plasma Applacation Lab.
1、操作驟步各項說明
刻度 Aperture(直徑μm) 使用目的
3 100 當需要大電流例如使用WDS分析時使用
2 30 一般觀察使用
1 20 高解析觀察使用
0 None 維護工作使用
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2、SEM操作作業系統各項功能解釋
開啟高壓觀察影像用 確定試片細微結構 自動調整像差
影像上下邊緣的焦距調整 確認照相條件 自動調整對比與亮度
電子束旋轉 擷取目前影像 建立報告時使用
欲觀察整個試片 降低倍率 紀錄觀察條件時使用
調整影像品質 增加倍率 交換試片時使用
選擇觀察區域 自動調整焦距 調整電子束
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Dynamic Focus Correction 動態對焦.
Beam Blanking 電子數遮罩.
OL Wobbler OL 調整.
Lens Reset 集束鏡與物鏡重設.
Stigma Reset 像差值重設.
Neutralizer 輸入訊號品質改變(影像亮度). (SEI 有效) Look-Up Table/Color
Dual Images
Quad Images
Digital Zoom
Dual M
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