X射线荧光光谱基本参数法测定水泥生料组分.pdf

I 水泥与混凝土 --—_——___—_—__——·_—-——————————一—— X射线荧光光谱基本参数法 测定水泥生料组分 fluOrescencedeterminatjonOfcemem X—ray cOmpOsitiOns us}ng fundamental0arametermethOd 张磊1王益民1刘明博2刘小东2 (1．中国建筑材料科学研究总院，北京100024； 2北京邦鑫伟业技术开发有限公司，北京102200) 摘要：采用ct+语言，根杯she册衄方程模型，编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限套司生 法对基体效应进行校正的优点与不足。分析结果表明：基本参数击逮麈稍慢，刹试结果满足水泥生产簧豢，需要赫 样的数量较少，适合对水泥生料的基体效应进行校正。 关键词：x射线荧光分析，基本参数法：基体效应，生料 me山odwas fbr Abs妇cl：The缸11danlent缸par址ne【er m3tenal(GsB08—111。)耐thBx一 e瑚ployedanalyz由异ceme啡龆、v 200 nlanu6c“】rcdbandw“c of X一‘avSp。ctrometer，which the如ndamemal by Adva】1乜ge扪dmsadvam39e parameter nlechod The havedlscussedXRFre娜Itshowedthat[heFundanlen酬口arⅢ11et洲ethodneedmorenmetoc胡culacehut meetthe of 1nth c锄entHw1mterialWhat ncedle％standardsthan o出er rcquenpr。duc口on 1㈨ore，th㈣thod anY rrlechod Mate越 KeyWo刑s’X一‘叫auorescencean出y”_fulld㈣adpmmeterr雎thod，；ma岫xc㈣ctl。n，；Raw 中图分类号：065734； 文献标识码：B文章编号2㈣7)04∞12()5 正而展开的。对基体效应校正的研究大致可以分为 0前言 3个阶段20世纪80盘代以前，主要使用经验系数 法。1 国外先进国家在水泥生产过程中，已经普遍采 在一些领域也经常应用；在稍后的10多年中，则以 用×射线荧光光谱仪对原材料及其成品的化学成分 理论影响系数法为主，最近几年，随着科学技术和 进行分析，保证了产品的质量。由于X射线荧光分 计算机技术的飞跃发展，计算能力的提高，原来只 析仪具有分析速度快、检测元素广、准确度高、操作 能作为脱机分析的程序，现在已经能够做成仪器机 简便等优点，加之国产波长色散X射线荧光光谱仪 内的即时分析软件。同时也出现一些新的基体效应 的迅速发展，国内企业此种仪器的应用也越来越广 校正方法，如神经网络基本参数法等，取得了很大 泛。因而，对材料各成份含量进行准确定量表征在 进展。 实际应用中具有极其重要的意义。