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通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113406401 B (45)授权公告日 2022.04.05 (21)申请号 202110564181.0 G01R 25/00 (2006.01) (22)申请日
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