材料分析方法（第3版）.pdf
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4材料分析方法.ppt
磁力显微技术 用磁力针尖获得的图像都包含着表面形貌和磁特性 与范德瓦尔斯力相比，原子间磁力在较大的间隙时仍保留一定量值。在不同的针尖高度下采集一系列图像是剥离两种效应的一种途径。 如果针尖靠近表面，即处在标准的非接触模式工作区间，则图像主要含形貌信息。 随着间隙增大，磁力效应变得显著。 硬盘磁记录单元的形貌像（左）和MFM图像（右） 4.4 其它SPM技术 力调制显微术（FMM） AFM针尖以接触方式扫描样品，将一周期信号加在针尖或样品上，由此信号驱动产生的悬臂调制振幅随样品弹性而变。 4.4 其它SPM技术 相位检测显微术（FMM） 相位检测显微技术也称之为相位成像，这种技术借助测量
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材料分析方法9.ppt
§8-1 透射电子显微镜的结构与成像原理 §8-2 主要部件的结构与工作原理 §8-3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数测定 本章重点： 1 TEM与光学透镜的异同。 2 电子光学系统的构造及各部分的功能。 3 如何实现成像操作和衍射操作? 4 TEM中主要光阑的位置和作用。 5 成像系统中各透镜的功能。 4 TEM和光学透射显微镜的异同 相同点： （1）光学成像原理相同； （2）都能用于形貌分析。 不同点： （1）光源不同； （2）聚焦透镜不同； （3）TEM中有中间镜； （4）成像屏幕不同； （5） TEM镜筒中要保持
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材料分析方法.doc
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现代材料分析测试技术教案
（初稿）
江苏大学材料学院
陈康敏
绪? 论
【教学内容与目标】
绪论部分主要阐述现代分析方法在研究材料组成与结构中的意义，介绍材料组成、结构与性能的关系；概略介绍课程教学内容，课程教学目的与要求，以及教学安排。
通过绪论部分的学习让学生对本课程教学目的、要求、内容与安排有所了解。
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导言
材料现代分析方法是一门技术性实验方法性的课程。它是在具备物理学、结晶学和材料基础知识之后开设的一门重要的专业基础课。它要掌握材料现代各种测试方法，了解各种测试仪器的基本原理、仪器结构、仪器工作原理、图谱分析解译方法，并学会在材料研究中的应用。
材料科
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7材料分析方法[精].ppt
7.3.3 结构因子的应用 简单点阵－－每个晶胞中只有一个原子，其坐标为(000)，原子散射因子为fn 在简单点阵的情况下，结构因子不受HKL的影响，即HKL为任意整数时，都能产生衍射。 7.3.3 结构因子的应用 体心点阵－－每个晶胞中有2个同类原子其坐标为（000） 和 ，其原子散射因子为 当H+K+L 为偶数时， 当H+K+L 为奇数时， fn 7.3.3 结构因子的应用 3.底心点阵 每个晶胞中有2个同类原子，其坐标分别为000和?, ?, 0。其原子散射因子为 4.面心点阵 每个晶胞个有4个同类原子，其坐标为（0，0
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材料分析方法.doc
材料分析测试方法
1、X射线衍生—XRD
2、X射线产生条件：
1)产生自由电子的电子源
2）设置自由电子撞击靶子
3）施加在阴极和阳极之间的高压，用以加速自由电子朝阳极靶方向加速运动
4）将阴、阳极封闭在10﹣3Pa的高真空中，保持两级纯洁，促使加速电子无阻的撞击到阳极靶上
3、X射线分为连续X射线（是高速运动的电子被阳极靶突然阻止而产生的）和特征X射线
4、特征X光谱和可见光光谱产生的原理有何异同：
相同：两者都是当原子处于激发态时，电子向低能级跃迁而发射的
不同点；可见光光子是由原子外层电子跃迁而产生，而特征X射线光子是由内层电子跃迁而产生。外层电子主要影响原子的化学，电学
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材料分析方法第7章分析.ppt
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 第七章 多晶体织构的测定 本章主要内容 第一节 极射赤面投影法 第二节 织构的种类和表示方法 第三节 丝织构指数的测定 第四节 极图的测定 第五节 反极图的测定 第七章 多晶体织构的测定 理想多晶体中各晶粒的取向呈无规分布，宏观上表现为各向同性 实际的多晶体材料的晶粒存在择优取向，称这种组织状态为织构 多晶体材料织构的形成往往与其制备和加工过程有关，如铸造、镀膜、塑性变形、退火等
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【材料现代分析方法】材料分析方法.doc
【材料现代分析方法】材料分析方法
材料分析题的做题方法
一、常见的材料类型
在我们历史考试中，我们发现的历史材料分析题中的常见材料类型有哪些呢？
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材料研究分析方法.doc
X射线谱分类、特点及产生原因
分为两类：连续X 射线谱；标识X射线谱
连续X射线谱：X射线的强度随波长连续变化,产生原因：撞击阳极靶后，电子的动能变为X射线和热能，每个电子的 动能转变为X射线的比列各不相同，相应地X射线的频率也不同，成千上万电子产生的X射线构成连续谱。 电压越高，管流越大，阳极材料的原子序数越大，连续谱的强度越高。
标识X射线谱:某些特定波长出现的强度极高的谱线，这些波长只决定于阳极材料；因为管电压超过某一临界值时，电子的动能足以将阳极物质原子中的电子激发出，处于激发态的原子不稳定，外层电子跃迁到内层空穴，多余的能量以X射线形式放出。 标识X射线的相对强度由电子在各能级间的跃
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材料分析方法介绍.docx
材料分析方法介绍
波长〔λ〕相邻两个波峰或波谷之间的直线距离，单位为米〔m〕、厘米〔cm〕、微米〔μm〕、纳米〔nm〕。这些单位之间的换算关系为1m＝102cm＝106μm＝109nm。
频率〔v〕单位时刻内通过传播方向某一点的波峰或波谷的数目，即单位时刻内电磁场振动的次数称为频率，单位为赫兹〔Hz，即s-1〕，频率和波长的关系为
波数〔σ〕每厘米长度内所含的波长的数目，它是波长的倒数，即σ＝1/λ,波数单位常用cm-1来表示。
传播速度:辐射传播速度υ等于频率v乘以波长λ，即υ＝vλ。在真空中辐射传播速度与频率无关，并到达最大数值，用c表示，c值准确测定为
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材料分析方法课件B.ppt
第十三章电子探针显微分析§13-1电子探针仪的结构与工作原理§13-2电子探针仪的分析方法及应用
引言电子探针的功能——微区成分分析。电子探针成分分析原理——用细聚焦电子束入射样品外表激发出样品元素的特征X射线，分析特征X射线的波长〔或能量〕，即可知样品中所含元素的种类〔定性分析〕；分析X射线的强度，可知样品中对应元素含量的多少〔定量分析〕。
§13-1电子探针仪的结构与工作原理结构：1电子探针的镜筒及样品室和扫描电镜无本质区别，因此常和SEM组合使用。2电子探针分析的信号为样品的特征X射线，其检测系统为X射线谱仪：波谱仪〔WDS〕——测定X射线的特征波长；能谱仪〔EDS〕——测定X射线的特征
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现代材料分析方法.ppt
*（2）线扫描分析：聚焦电子束在试样沿一直线慢扫描，同时检测某一指定特征x射线的瞬时I，得到特征x射线I沿试样扫描线的分布。（元素的浓度分布）对于测定元素在材料相界和晶界上的富集与贫化是十分有效的。第62页，共102页，星期日，2025年，2月5日*线扫描分析第63页，共102页，星期日，2025年，2月5日*（3）面扫描分析电子束在试样表面进行面扫描，谱仪只检测某一元素的特征x射线位置，得到由许多亮点组成的图像。亮点为元素的所在处，根据亮点的疏密程度可确定元素在试样表面的分布情况。第64页，共102页，星期日，2025年，2月5日*面扫描分析亮区代表元素含量高，灰区代表元素含量较低，黑色区域
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材料分析方法_试卷8.doc
材料现代分析方法试题8
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材料学院 ?材料科学与工程 专业 ????年级 ????班级? ?材料现代分析方法? 课程
200? —200? 学年??? 第??? 学期（?? ）卷? ????期末考试题（ 120 分钟）
考生姓名?????? ?????????学? 号? ?????????????考试时间????????????????? ?
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题 号
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得? 分
分 数
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主考教师：??????????????? ?????阅卷教师：??????????????? ?.
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一、基本概念题（共10题，每题5分）
1．
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材料分析方法13.ppt
* 二、 二次电子像形貌衬度的应用 (一) 断口分析 3. 解理(准解理)断口 解理(准解理)断裂属于脆性断裂，是断口沿着解理面产生的穿 晶断裂，断口特征 见图13-13
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材料分析方法精简.doc
1球差、像散和色差是怎样造成的？如何减小这些像差？哪些是可消除的像差？
答：1球差是由于电磁透镜对电子。一个物点散射的电子束经过具有球差的电磁透镜后并不聚在一点，所以像平面上得到一个弥散圆斑，在某一位置可获得最小的弥散圆斑，成为弥散圆。还原到物平面上，则半径为rs=1/4 Cs α3rs 为半径，Cs为透镜的球差系数，α为透镜的孔径半角。所以见效透镜的孔径半角可减少球差（决定分辨率的像差因素）。
2，色差是由于电子的波长（能量）。一个物点散射的具有不同波长的电子，进入透镜磁场后将沿各自的轨道运动，结果不能聚焦在一个像点上，而分别交在一定的轴向范围内，形成最小色差弥散圆斑，半径为 rc=Cc α
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材料分析方法作业.doc
X射线物理学基础
(P11、12)
1、名词解释：
连续X射线：X射线谱中，强度随波长连续变化的部分。
特征X射线：当U管超过某临界值后，叠加在连续谱上的强度很高且具有一定波长的X射线谱。
相干散射：当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件
非相干散射：散射X射线的波长随散射方向不同而改变，分布于各个方向的散射线，波长各不相等，不能产生干涉现象。这种散射称为非相干散射。
光电效应：物质在光子作用下发射电子的现象，称为光电效应；
荧光辐射