一种高精度电容薄膜真空计.pdf
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112834110 A
(43)申请公布日 2021.05.25
(21)申请号 202011604898.5
(22)申请日 2020.12.30
(71)申请人 季华实验室
地址 5
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