安阳X射线智能检测装备设计项目可行性研究报告.docx
文本预览下载声明
泓域咨询/安阳X射线智能检测装备设计项目可行性研究报告
报告说明
集成电路X射线检测设备按精度要求可以分为微米级、百纳米级,按检测类型可以分为2D检测设备和3D/CT检测设备,可满足不同半导体厂商、不同产品精度、以及不同应用场景的检测需求。目前,集成电路X射线检测设备以德国、美国和日本等国外厂商为主,特别是百纳米级检测精度的检测设备市场主要集中国外厂商中。日联科技通过自主研发,已开发LX2000、AX8200、LX9200等型号的集成电路X射线检测设备,可应用于集成电路封测环节的微米级2D和3D/CT检测,日联科技在集成电路X射线检测领域打破了国外厂商的垄断,系国内极少数能参与集成电路封测环
显示全部