GaSb焦平面红外探测器的制备方法及GaSb焦平面红外探测器.pdf

PbSe光敏薄膜红外光电探测芯片及其制备方法、红外光电探测器.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113013283 A (43)申请公布日 2021.06.22 (21)申请号 20191

2023-06-07 约1.37万字 12页立即下载

GaSbⅡ型超晶格红外探测器材料分子束外延生长研究的开题报告.docx InAs/GaSbⅡ型超晶格红外探测器材料分子束外延生长研究的开题报告一、研究背景随着人类科技的不断发展，红外探测技术在军事、医疗、环保等领域的应用日益广泛。而基于Ⅱ型超晶格的红外探测器以其良好的光谱特性、快速响应速度和高灵敏度等优点，成为当前红外探测技术中的重要研究方向。其中，InAs/GaSbⅡ型超晶格红外探测器因其在长波红外区具有优秀的表现，成为了近年来的研究热点。现有研究表明，分子束外延（MBE）生长技术是制备高质量InAs/GaSbⅡ型超晶格红外探测器材料的重要方法。通过调控外延生长的工艺条件和控制各参数的精度，可制备具有高质量、均匀性、可重复性和纯度的InAs/GaSbⅡ型超

2024-05-08 约小于1千字 2页立即下载

InAs_GaSb二类超晶格共振隧穿红外探测器：原理、性能与前沿探索.docx InAs/GaSb二类超晶格共振隧穿红外探测器：原理、性能与前沿探索一、引言 1.1研究背景与意义红外探测技术作为现代信息技术的重要组成部分，在军事、民用等众多领域都发挥着不可或缺的关键作用。在军事领域，红外探测技术是实现精确制导、目标侦察与监视的核心技术之一。精确制导武器借助红外探测器能够准确识别目标的红外特征，实现对目标的精确打击，大大提高了武器系统的作战效能。在侦察与监视任务中，红外探测技术可以穿透恶劣的天气条件和黑暗环境，获取目标的位置、活动等关键信息，为军事决策提供有力支持，显著增强了军队在复杂战场环境下的作战能力和态势感知能力。在民用领域，红外探测技术同样有着广泛的应用。在

2025-04-28 约4.48万字 34页立即下载

红外探测器.ppt * 4.3 IRFPA铟柱工艺 AR coating CdZnTe衬底 n-HgCdTe P-HgCdTe * 4.4 IRFPA倒装工艺 Si信号处理 n-HgCdTe AR coating CdZnTe衬底 P-HgCdTe * 第五章对应工艺设备推荐 * 亚科红外工艺设备推荐 * * 薄膜和孔检测电特性 Cascade探针台几何特性 Bruker白光干涉仪、台阶仪、扫描电镜光学及表面特性 Bruker白光干涉仪、荧光X射线测厚仪形貌观察白光干涉仪、X光机成分分析 Bruker红外能谱仪亚科红外工艺检测设备推荐谢谢! 马劲* * 红外探测工艺和应推荐设备的培训 *

2017-06-10 约3.81千字 38页立即下载

红外探测器.pdf (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218545905 U (45)授权公告日 2023.02.28 (21)申请号 202222759191.2 (ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 (22)申请日 2022.10.19

2023-02-27 约1.48万字 18页立即下载

碲镉汞红外探测器.ppt 光子吸收率高跃迁方式为带间跃迁全波段相应通过调节Cd组分的数值大小，碲镉汞材料的禁带宽度随之变化HgCdTe光伏探测器结构p-on-n：超高的探测器灵敏度n-on-p:制造工艺简单生产工艺n-on-p:离子注入技术消除辐射损伤控制掺杂离子的扩散激活杂质离子的电活性p-on-n:受主掺杂探测器器件优质比较我国的研究情况(1)2048元线列碲镉汞焦平面器件(2)双色碲镉汞红外器探测器2048元线列碲镉汞焦平面器件2048像元分布间接互联示意图滤波片安装结构设计杜瓦制冷器探测器性能碲镉汞光敏元响应光谱碲镉汞焦平面器件响应率分布探测器性能达到的性能参数光敏元尺寸28探测器元数2048平均峰值探测率9.

2025-05-11 约小于1千字 28页立即下载

光电探测器及其制备方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114464694 A (43)申请公布日 2022.05.10 (21)申请号 202210023552.9 (22)申请日 2022.01.10 (71)申请人华南师范大学地址 510006

2023-05-07 约1.33万字 12页立即下载

一种红外焦平面探测器及其制作方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113013188 A (43)申请公布日 2021.06.22 (21)申请号 202110201569.4 (22)申请日 2021.02.23 (71)申请人北京智创芯源科技有限公司

2023-06-07 约1.24万字 13页立即下载

2024-06-16 约3.07千字 33页立即下载

《色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法》.pdf ICS CCS T/WXIOT 无锡市物联网产业协会团体标准 T/WXIOTXXX-2025 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 TestMethodforColorSorterofNear-infraredInGaAsFocalPaneDetectors 征求意见稿在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利申请号和申请日期。 2025-XX-XX发布2025-XX-XX实施无锡市物联网产业协会发布 T/WXI

2025-04-30 约1.55万字 16页立即下载

色选用近红外InGaAs 焦平面探测器参数测试方法.docx 1 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 1范围本文件给出了色选用近红外InGaAs焦平面探测器的参数，包括相对光谱响应、光谱因子、像元黑体探测率、平均黑体探测率、响应率、响应率不均匀性、盲元率、行差、噪声电压及相应的测试方法。本文件适用于线列、面阵色选用近红外InGaAs焦平面探测器。 2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T17444—2013红外焦平面阵列参数测试方法 3术语和定义 GB/T17444确

2025-05-01 约6.54千字 26页立即下载

色选用近红外InGaAs 焦平面探测器参数测试方法.pdf 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 1范围本文件给出了色选用近红外InGaAs焦平面探测器的参数，包括相对光谱响应、光谱因子、像元黑体探测率、平均黑体探测率、响应率、响应率不均匀性、盲元率、行差、噪声电压及相应的测试方法。本文件适用于线列、面阵色选用近红外InGaAs焦平面探测器。 2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T17444—2013红外焦平面阵列参数测试方法 3术语和定义 GB/T17444

2025-04-28 约1.39万字 13页立即下载

《色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法》.pdf ICS CCS T/WXIOT 无锡市物联网产业协会团体标准 T/WXIOTXXX-2025 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 TestMethodforColorSorterofNear-infraredInGaAsFocalPaneDetectors 征求意见稿在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利申请号和申请日期。 2025-XX-XX发布2025-XX-XX实施无锡市物联网产业协会发布色选用近红

2025-05-03 约1.43万字 14页立即下载

《色选用近红外InGaAs 焦平面探测器参数测试方法》.pdf ICS CCS T/WXIOT 无锡市物联网产业协会团体标准 T/WXIOTXXX-2025 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 TestMethodforColorSorterofNear-infraredInGaAsFocalPaneDetectors 征求意见稿在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利申请号和申请日期。 2025-XX-XX发布2025-XX-XX实施无锡市物联网产业协会发布色选用近红

2025-05-05 约1.43万字 14页立即下载

《色选用近红外InGaAs 焦平面探测器参数测试方法》.pdf 色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法 1范围本文件给出了色选用近红外InGaAs焦平面探测器的参数，包括相对光谱响应、光谱因子、像元黑体探测率、平均黑体探测率、响应率、响应率不均匀性、盲元率、行差、噪声电压及相应的测试方法。本文件适用于线列、面阵色选用近红外InGaAs焦平面探测器。 2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T17444—2013红外焦平面阵列参数测试方法 3术语和定义 GB/T17444

2025-05-11 约1.73万字 17页立即下载