元器件失效模式.docx
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元器件失效模式及其失效比例
元器件名称二极管
普通二极管
失效模式 比例% 元器件名称
短路49.0
短路
49.0
（齐纳）
参数变化
35.0
开路
36.0
短路
20.0
参数变化
15.0
晶体管
开路
60.0 短路 73.0
双极型晶体管
参数变化
28.0
开路
27.0
短路
12.0
短路
51.0
短路
51.0
输出偏低
22.0
开路
29.0
场效应晶体管
参数变化
17.0
参数变化
20.0
开路
5.0
失效模式
开路
比例%
45.0
微波二极管
整流二极管
短路
可控硅整流二极管
参数变化58.0
参数变化
58.0
GaAs场效应晶体管
开路
26.0
开路
24.0
参数变化
13.0
短路
18.0
参数变化
50.0
短路
40.9
射频晶体管
短路
40.0
不连续
22.7
开路
10.0
开路
9.1
短路
61.1
烧毁
9.1
加压不当
11.1
参数负漂移
4.5
基极开路
5.6
游离颗粒 4.5 复式晶体管
发射极开路 5.6
其它
9.1
连续损耗
5.6
断不开
45.0
无输出
5.6
短路
40.0
结构
5.6
开路
10.0
光电子器件
小信号二极管
98.0
2.0
输出偏高短路
5.0
61.0
开关二极管
半导体闸流管
三端双向可控硅开关二极管
电压基准二极管
（齐纳）
闭合失效断开失效闭合失效参数变化开路
短路
5.0
90.0
10.0
69.0
18.0
13.0
发光二极管
光电耦合器
开路短路退化
不能切换过电应力开路
接线故障
70.0
30.0
54.9
27.5
5.9
5.9
3.9
元器件失效模式及其失效比例（表续）
元器件失效模式及其失效比例（表续）
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元器件名称
光电耦合器（续）光电传感器
模拟电路
线性电路
开关集成电路
失效模式
输出超差77.0
输出超差
77.0
无输出
23.0
电学失效
56.6
输出错误
16.8
不开关
11.5
机械损伤
10.4
无输出
2.5
漏电
2.2
开路
29.6
电过应力
23.2
参数不符
21.6
机械过应力
16.8
导线故障
4.8
增益偏低
4.0
参数不符
94.9
低电平不足
1.7
短路
1.7
功能失效
1.7
参数不符
90.0
输出偏低
2.5
机械失效
2.5
电性能失效
2.5
外壳裂缝
2.5
电性能失效
60.0
机械失效
19.2
过电应力
9.1
参数失效
8.1
开路
2.1
比例%
2.0
50.0
50.0
元器件名称
运算放大器（续）
电压基准源
电压调整器
失效模式
比例%
功能失效1.5电学失效
功能失效
1.5
电学失效
34.5
氧化层缺陷
34.5
参数不符
13.8
电压不当
6.9
机械故障
3.4
破碎
3.4
不连续
3.4
电学失效
64.9
电过应力
20.5
短路
4.6
接线失效
4.3
机械失效
4.3
输出错误
1.3
电学失效
77.9
机械失效
13.9
电过应力
2.6
开路
2.5
参数不符
2.2
电压错误
0.8
参数不符
49.6
电失效
35.8
机械故障
8.0
开路
2.9
接线故障
2.2
污染
1.5
漏电
40.0
定时失效
16.0
污染
16.0
电压不当
12.0
接线不当
8.0
起泡/脱皮
8.0
塑封放大器
陶瓷封装放大器
运算放大器
比较器
塑封电压比较器
振荡器
短路34.8
短路
34.8
参数不符
28.4
开路
20.8
功能失效
10.6
导线故障
3.4
偶然失效
1.9
接线故障
38.7
短路
21.3
封装裂纹
14.0
功能失效
12.1
开路
8.3
电过应力
5.7
输出错误
23.5
电性能失效
22.0
开路
16.5
电过应力
14.5
插损过大
13.5
开裂
10.0
短路
58.6
接线故障
17.1
功能失效
10.0
参数不符
5.7
微裂纹
5.7
漏电
2.9
电学失效
35.1
短路
29.5
功能失效
14.7
数据溢出
12.9
污染
4.0
机械故障
3.7
控制器
失效模式
比例%
元器件名称
ROM
失效模式
比例%
微型控制器
多路复用器
接收/发射器
存储器电路
RAM
陶瓷封装存储器
数据丢失24.4短路
数据丢失
24.4
短路
21.5
解码失效
18.2
漏电
13.4
行/列失效
12.0
数据溢出
10.5
性能退化
65.9
机械损伤
26.8
短路
4.5
开路
2.4
位失效
0.2
数据溢出
0.2
短路
36.5
功能失效
14.4
导线故障
13.6
电失效
13.1
开路