基于虚拟技术的晶体管特性测试.pdf

第 13卷 第3期 大 连 民 族 学 院 学 报 Vo1．13．No．3 2011年 5月 JournalofDalianNationalitiesUniversity May2011 文章编号：1009—315X(2011)03—0260—04 基于虚拟技术的晶体管特性测试 刘 燕 ，陈兴文 (大连民族学院 信息与通信工程学院，辽宁 大连 116605) 摘 要：在传统的晶体管特性测试实验中，通常需要使用多种测量仪器来完成实验任务。为了降低实验 成本 ，简化实验操作过程，设计了基于虚拟仪器技术和PCI一6221型通用数据采集卡完成晶体管特性测 试实验方案 ，通过分别对 IN4148和2SC9014晶体管进行实际测量，证明其能够满足测试实验要求。 关键词 ：虚拟技术；晶体管特性；LabVIEW 中图分类号：TN919 文献标志码 ：A TransistorCharacteristicsTestingBasedonVirtualTechnology LIU Yan，CHEN Xing—wen (CollegeofInformation＆CommunicationEngineering，DalianNationalitiesUniversity， DalianLiaoning116605，China) Abstract：Intraditionaltransistorcharacteristicstestingexperiment，itisusuallyneededtousea varietyofmeasuringinstrumentstocompleteexperiments．In ordertoreduceexperimentcosts andsimplifyoperatingprocess，thetransistorcharacteristicstestingplanbasedonvirtualinstur- menttechnologyandPCI一6221universaldataacquisitioncard isdesigned．Aftertheactual measurementofIN4148and2SC9014，itisprovedthatthetestercanmeetdemandoftheexper- iments． Keywords：virtualtechnology；transistorcharacteristics；LabVIEW 晶体管特性测试是电子技术实验中的基本实 1 晶体管特性测量原理 验之一，目前各院校实验教学中通常使用万用表、 晶体管图示仪等多种仪器来完成该实验项 目。这 1．1 二极管正向伏安特性的测量原理 个实验项 目往往是面向初学 电子技术的学生开 通常二极管正向伏安特性是指流经它的电流 设，学生初次利用多种实验仪器完成实验势必影 的大小与加在二极管两端电压之间的关系，为了 响实验效果。随着虚拟仪器技术的广泛应用，通 能够实现二极管正向伏安特性曲线，需在二极管 过软件将计算机硬件资源与仪器硬件有机的融 两端加上随时间而改变的电压，这样才能测量二 合，把计算机强大的计算处理能力和仪器硬件的 极管在不同电压下通过的电流，其测量原理如图 测量、控制能力结合在一起 ，大大缩小了仪器硬件 1所示。根据此原理，实验时可 以利用 LabVIEW 的成本和体积，并通过软件实现对数据的显示、存 产生一个时变的电压源，然后利用数据采集卡在 储 以及分析处理。因此采用虚拟仪器技术开发晶