一种基于序列零初相位调制的新型正弦信号频率测量方法.PDF
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(完整)基于LabVIEW的正弦信号频率与相位测量.pdf
基于LabVIEW的正弦信号频率与相位测量
1.前言
信号频率与相位的测量具有重要的实际意义。本文调研了频率与相位的多种测量算法，
并借助LabVIEW编程实现。在此基础上，对各种算法进行了比较研究，且提出了行之有效的
改进措施。
2.采样定理与误差分析
2.1采样定理
f(t)（-,）
时域信号的频谱若只占据有限频率区间，则信号可以用等间隔的采样
mm
值唯一表示，而最低采样频率为2f。采样定理表明：信号最大变化速度决定了信号所包
m
含的最高频率分量，要使采样信号能够不失真地反映原信号，必须满足在最高频率分量的一
个周期内至少采样两个点。
2.2误差分析
对连续周期信号x(t)进行采
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正弦信号的发生及频率、相位的测量文档.doc
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正弦信号的发生及频率、相位的测量.doc
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正弦信号的发生及频率、相位的测量
2013-04-24
正弦信号的发生及频率、相位的测量（可２～４ 人合作完成）设计一个双路正弦波发生器，其相位差可调。设计一个频率计设计一个相位计分两种情况测量频率和相位：不经过数据采集的仿真经过数据采集频率和相位的测量至少有
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一、引言
1.1研究背景与意义
1.1.1纳米位移测量的重要性
随着科技的飞速发展，纳米尺度下的测量与控制成为众多前沿领域的关键技术。在超精密加工领域，如光学元件的制造，其表面精度要求达到纳米级，微小的位移偏差都可能导致光学性能的显著下降。在微电子制造中，芯片制造工艺不断向更小尺寸迈进，集成电路中各层图案的对准精度需精确到纳米量级，纳米位移测量技术直接关系到芯片的性能和集成度，对半导体产业的发展起着决定性作用。在生物医学领域，细胞操作、生物分子探测等研究需要对微小物体的位置进行精确控制和测量，纳米位移测量为这些研究提供了关
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(22)申请日 2021.0
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(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202110082490.4
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(71)申请人 上海汽车集团股份有限公司
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一 种基于软件重采样的频率测量方法
彭明霞，王明照
(华中农业大学计算机系，湖北省武汉市430070)
摘 要：DSP(
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(21)申请号202410215268.0
(22)申请日2024.02.27
(71)申请人西安瀚博电子科技有限公司
地址
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(10)授权公告号 CN 113358063 B
(45)授权公告日 2022.03.18
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(22)申请日
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(21)申请号 202210214636.0
(22)申请日 2022.03.07
(71)申请人 重庆大学
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(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114878007 A
(43)申请公布日 2022.08.09
(21)申请号 202210353939.0
(22)申请日 2022.04.01
(66)本国优先权数据
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(45)授权公告日 2022.02.15
(21)申请号 202110144547.9 审查员 余汐霆
(22)申请日 2021.02.02