AN-835应用笔记.PDF

AN-835 应用笔记 One Technology Way ? P.O. Box 9106 ? Norwood, MA 02062-9106 ? Tel: 781/329-4700 ? Fax: 781/326-8703 ? 高速ADC测试和评估 作者：Brad Brannon和Rob Reeder 应用范围 FIFO板可通过一根标准USB线连接至个人计算机，并配合 ADC Analyzer软件对高速ADC的性能进行快速评估。用户 本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速 可以查看特定模拟输入和时钟速率的快速傅立叶变换 ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考， ，并对信噪比 、信纳比 、无杂散动态 不能替代产品数据手册。 (FFT) (SNR) (SINAD) 范围(SFDR)和谐波数据进行分析。FIFO板有单通道和双通 动态测试硬件设置 道两种版本可供选择。对于某一特定ADC该选择哪一版本 的决定，请参阅FIFO数据手册。LVDS和串行输出器件可 SNR、SINAD、最差杂散和IMD均通过类似于图1的硬件设 能需要附加一块称为 的适配板。这些会在 置进行测试。在生产测试中，测试硬件均高度集成，但硬 HSC-ADC-FPGA 产品数据手册中特别说明。有关 串行 件原理都是一样的。动态测试的基本设置包括一个信号发 HSC-ADC-FPGA LVDS适配板、FIFO以及ADC Analyzer软件工作原理的更 生器、带通滤波器、测试夹具、低噪声电源、编码源(通常 多信息，请访问ADI公司网站：/FIFO。 集成于评估板中)、数据采集模块和数据分析软件。ADI公 司提供了相应的应用软件和硬件，用以在基准评估中提供 帮助。请参阅“ADC FIFO套件”部分。 WALL OUTLET 100V TO 2