SJT 10427.2-1993半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理.pdf

L 55SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10427.2-93半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理General principles of measuring methods ofintermediate-frequency amplifier forsemiconductor audio integrated circuits1993-12-17发布139.1·06-01买施中华人民共和国电子工业部发布 中华人民共和国电子行业标准半导体集成电路音响电路中频SJ/T 10427.2-93放大器测试方法的基本原理General principles of measuring methods ofintermediate-frequency amplifier forsemiconductor audio integrated circuits1主题内容与适用范围本标准规定了半导体集成电路音响电路中频放大器（以下简称器件）电参数测诚方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路音响电路中频放大器的电参数测试。2总的要求2.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。2.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。2.3测试期间，电源电压误差应在规定值的土1%以内，电源内阻在信号频率下应基本为零，施于被测器件的其它电参量的精度应符合器件详细规范的规定。2.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。2.5测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的辅助电路或补偿电路。2.6测试期间，应无寄生振荡。2.7若电参数值是由几步测试经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。3参数测试3.1静态电流Icco3.1.1目的中频放大器输入端对参考点交流短路时，测量由电源端流入中频放大器的电流。3.1.2测试原理图Icco的测试原理图如图1所示。中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1934001施1 SJ/T 10427.2---93VecDUT图13.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度；b．电源电压；c．输入零信号。3.1.4测试程序3.1.4.1在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。3.1.4.2电源端施加规定的电压。3.1.4.3在电源端读取Icco。3.2限幅灵敏度VnLrM3.2.1目的当FM中频放大器的鉴频输出电压的变化比限幅时降低3dB时，测量相应的输入信号电压。3.2.2测试原理图VLIM的测试原理图如图2所示。VccDUT2.IF图 2物3.2.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度；- SJ/T 1G427.2-93电源电压；b.中频频率和频偏；c.d．调制频率；e．负载阻抗。3.2.4测试程序3.2.4.1在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。3.2.4.2电源端施加规定的电压。3.2.4.3将信号发生器频率和频偏调到规定值，并微调信号发生器频率，使鉴频输出电压达到最大。3.2.4.4加大输入信号幅值，使鉴频电压输出进入限幅区。记下此时的输出电压值。3.2.4.5逐渐减小输入信号幅值，使输出电压的变化比限幅值下降3dB。3.2.4.6从输入信号电压表，读取被测器件的输入信号电压，即为VLIM。3.3信噪比S/N3.3.1目的测量中频放大器解调输出的音频信号电压(输入信号有调制时)和噪声电压（输入信号去调制时)之比。3.3.2测试原理图S/N的测试原理图如图3所示。VcDUT图33.3.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度；a.b.电源电压；信号频率和幅值；C.d.调制度和调制频率；e.负载阻抗。3.3.4测试程序3.3.4.1在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。3.3.4.2电源端施加规定的电压。3.3.4.3将信号发生器的频率、信号幅值、调制频率和调制度调到规定值。3 SJ/T10427.2---933.3.4.4微调信号发生器的频率使解调输出达到最大，读出此值，记为Vos。3.3.4.5去掉信号发生器的调制，读出相应的噪声输出电压，记为VoN。3.3.4.6按下式计算信噪比Vos (dB)S/N = 20lg VoN3.4检波输出电压Vop3.4.1目的测量中频放大器的解调输出电压。3.4.2＇测试原理图Vop的测试原理图如图4所示。7 r*DUT图 43.4.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度；a.b.电源电压；信号频率和幅值；c.d.调制度和调制频率；负载阻抗。e.3.4.4测试程序3.4.4.1在规定的环境温度下，将被测器件