1300nm超辐射发光二极管寿命测试.pdf
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第 卷 第 期 光 学 学 报 ,
28 10 Vol.28 No.10
年 月 ,
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文章编号: ( )
02532239200810199404
1300狀犿超辐射发光二极管寿命测试
孙孟相 谭满清 王鲁峰
(中国科学院半导体研究所,北京 100083)
摘要 作为光纤陀螺用光源的超辐射发光二极管( )随着工作时间的延续,其性能会发生退化。采用加速老化
SLD
的实验方法来估算 管芯的工作寿命。分别在环境温度 和 下对 只 管芯进行加速
InGaAsPSLD 373K 358K 5 SLD
老化,并通过对 Pt曲线拟合来推算和估计管芯的老化速率和激活能。计算出了器件的激活能平均值约为
, 管芯在室温下的工作寿命超过 6 ,可以满足光纤陀螺用光源的寿命要求。对影响 管芯可靠
0.82eV SLD 10h SLD
性的因素以及管芯的退化机理进行了分析,为研制高可靠性的超辐射发光二极管提供了理论基础。
关键词 光学器件;超辐射发光二极管;寿命;测试;激活能
中图分类号 文献标识码 : /
TN365 A 犱狅犻10.3788犃犗1994
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