ba于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计.pdf
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第17卷第8期 电子设计工程 2009年8月
Electronic
No.8 Design
V01.17 Engineering Aug.2009
基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计
张清,特日格乐,董翔
(武汉大学电子信息学院.湖北武汉430079)
摘要:该系统基于扫频外差基本原理,以单片机和FPGA构成的最,l、系统为控制核心,可在任意指定频段内测量被
测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、
Hz~100
相频特性曲线显示等部分,在100 kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅频特性和相频特性并自动设1
频段范围。观察不同频段内网络的幅频特性和相频特性,并在示渡器上同时显示幅频曲线和相频曲线。
关键词:扫频测试;现场可编程门阵列(FPGA);频率特·It.;直接教字式频率合成(DDS)
中图分类号:TM932 文献标识码:A 文件编号:167“236(2009)08-0060-03
on
of characteristicstesterbased
Designfrequency
andFPGA
single-chipmicrocomputer
ZHANG
Qing,Terigele,DONGXiang
(School Information,Wuhwt
ofElectronic University,形妇430079,China)
controlledthesmallestconsistsof and isbased
Abstract:This Final
system,mainlyby system singh-chipmicrocomputer
onthebasic of tomeasurethe andthe char-
principlesfrequencysweepheterodyne amplitude·frequencyphase-fequency
ofthemeasurandin bandanddemonstratethe CUl广veontheoscillo-
acteristics network
arbitraryappointed corresponding
whole ofDDS and detection
consists source,measured module,
scope.Thesystem sweep8i掣lal network,amplitudephase
controlmoduleand and characteris
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