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ba于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计.pdf

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第17卷第8期 电子设计工程 2009年8月 Electronic No.8 Design V01.17 Engineering Aug.2009 基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计 张清,特日格乐,董翔 (武汉大学电子信息学院.湖北武汉430079) 摘要:该系统基于扫频外差基本原理,以单片机和FPGA构成的最,l、系统为控制核心,可在任意指定频段内测量被 测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、 Hz~100 相频特性曲线显示等部分,在100 kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅频特性和相频特性并自动设1 频段范围。观察不同频段内网络的幅频特性和相频特性,并在示渡器上同时显示幅频曲线和相频曲线。 关键词:扫频测试;现场可编程门阵列(FPGA);频率特·It.;直接教字式频率合成(DDS) 中图分类号:TM932 文献标识码:A 文件编号:167“236(2009)08-0060-03 on of characteristicstesterbased Designfrequency andFPGA single-chipmicrocomputer ZHANG Qing,Terigele,DONGXiang (School Information,Wuhwt ofElectronic University,形妇430079,China) controlledthesmallestconsistsof and isbased Abstract:This Final system,mainlyby system singh-chipmicrocomputer onthebasic of tomeasurethe andthe char- principlesfrequencysweepheterodyne amplitude·frequencyphase-fequency ofthemeasurandin bandanddemonstratethe CUl广veontheoscillo- acteristics network arbitraryappointed corresponding whole ofDDS and detection consists source,measured module, scope.Thesystem sweep8i掣lal network,amplitudephase controlmoduleand and characteris
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