SPECTRO-小焦点能量色散X射线荧光光谱仪MIDEX-深圳云帆兴烨.doc

PAGE PAGE 6 地址：上海市莲花路1555号华一实业大厦1303室 郑顺鑫 电话：021805 网址: E-mail: zsx@ 德国斯派克分析仪器公司SPECTRO 小焦点能量色散X射线荧光光谱仪MIDEX 深圳云帆兴烨科技有限公司 目 录 WEEE及RoHS指令测试手段 产品特点和性能指标 使用耗材费用 硬件耗材费用 测试效率 售后服务承诺 安装调试培训 配套环境和人员要求 典型客户 前言：WEEE及RoHS指令测试手段 欧盟ROHS对产品中Pb, Hg, Cd, Cr6+ 和Br (PBB PBDE)的含量要求为Pb, Hg, Cr6+ 和Br (PBB PBDE)含量小于1000ppm.Cd含量小于100ppm 如果要对RoHS要求物质做完整的测试，需要主要测试仪器有： ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪 GC-MS气相色谱质谱联用仪， UV紫外分光光度计 德国斯派克分析仪器公司推出的SPECTRO MIDEX多功能 X射线荧光光谱仪适合于电子电气产品微小样品以及微小区域以及整机的元素分析，分析样品的形态可以为固体或者液体，分析过程对样品没有损害。样品室有易于调节的样品台，通过20倍率变焦摄像系统和激光指位系统，可准确的确定测量位置。测量点直径最小为1.0mm。样品的测试精度为0.1%.可在2分钟内完成从钠到铀的数十种元素的分析。 MIDEX适用于检验机构，海关商检，电子电气元件的分析等等。 小焦点X射线荧光光谱仪MIDEX产品特点和性能指标 　 型號 德国斯派克Spectro MIDEX 图片 　 产地 　 德国 测试元素 分析的范围为元素周期表中钠到铀的元素（除惰性气体）。并优化Cd，Pb，Hg，Cr，Br，Cl(无卤检测) 使用介绍 将待测试的样品放入样品室 测量时间180秒内(无须任何人为干预), 即可测出结果, 可直接打印报告. 分析精度 LOD(檢出下限，300秒，PE材料) 鉛 (Pb)：1 ppm 测试金属镀层厚度，稳定性达 鎘 (Cd)：5ppm 0.1%。根据不同的基体，穿透 汞 (Hg)：2 ppm 深度各有不同。 鉻 (Cr)：3ppm 溴 (Br)：2ppm 氯（Cl）：50ppm 符合欧洲WEEE标准RoHs指令 光学系统 X射线管 采用端窗Mo靶X射线管，最大电压48KV，最大功率30W，冷却采用风扇强制风冷式，设计寿命5万小时。 X射线光斑大小 1.0mm，可以直接测试微小的样品，不需要很多样品数量，不需要拆分样品。可以对芯片引脚，焊点，元器件等微小样品或者微小区域进行直接测试。 探测系统 偵測器detector 硅半导体偵測器 ,分辨率好于160eV。无需液氮冷却，使用方便。处理信号能力极强，峰背比10000：1信噪比极佳。不会产生Si(Li)计数器所发生的在无液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比变差的情况。 Silicon Drift Detector 计数率 250,000cps，可有效防止计数溢出。 样品室 大样品空间 500mmX550mmX160mm，可以放置大样品，而不需要拆分 样品台 可自由移动样品台，可以测试不规则的样品，而不需要拆分 定位系统 摄像头 20倍变焦放大 激光定位 双激光束定位，弥补了摄像系统可能的位置偏差 软件 厚度補正功能 具有厚度补正功能 材質補正功能 斯派克公司开发的TQ-RoHS软件，具有强大的分析功能，可以校正多元素重叠，扣除Sb，Sn及Br，As分别对Cd，Pb测试的影响，采用康普顿散射内标法校正（补正）不同的材质。 標準样品 内置百余种不同材质的标准样品 软件功能 仪器配置快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，更为接近(符合)实际，在此程序中采用了百余种国际标准样品，实测结果并予以固化。界面采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。机器自我诊断系统，仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。仪器具有多达