GB/T 42838-2023半导体集成电路　霍尔电路测试方法.pdf

ICS31.200 CCSL56 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT42838 2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 — Semiconductorinteratedcircuits g Measurin methodofHolzercircuit g 2023-08-06发布 2023-12-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT42838 2023 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 。 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。 ( / ) 。 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会 SACTC78归口 : 、 、 本文件起草单位 中国电子技术标准化研究院 南京中旭电子科技有限公司 合肥美菱物联科技有 、 、 。 限公司 北京微电子技术研究所 东莞市国梦电机有限公司 : 、 、 、 、 、 。 本文件主要起草人 尹航 刘芳 何万海 唐食明 张帆 刘德广 Ⅰ / — GBT42838 2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 1 范围 ( ) 。 本文件规定了半导体集成电路霍尔电路 以下称为器