SY∕T 7324-2016 X 射线荧光录井仪校准方法.pdf

ICS75.180

E90

备案号：57709-2017SY

中华人民共和国石油天然气行业标准

SY厅、7324-2016

X射线荧光录井仪校准方法

ThecalibrationforX-rayfluorescencelogginginstrument

2016-12-05发布2017-05-01实施

SY厅7324-2016

目次

前言………...…………Il

l范围·

2术语和定义－

3概述………………………1

4技术要求·

5校准条件…………2

6校准项口和校准方法………·……3

7校准结果处理和复校时间间隔…….………………..6

8HSE要求……………………......……………·………..6

附录A（资料性附录）X射线荧光录井仪校准记录格式……·······……·………7

附录B（资料性附录）X射线荧光录井仪校准证书内贝格式…………9

SY厅7324-2016

前言

本标准按照GB厅1.1-2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则

起草。

本标准由石油工业标准化技术委员会石油专用计量器具校准规范直属工作组提出并归口。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担坝、别这些专利的责任。

本标准起草单位：中石化江汉石油工程有限公司测录井公司、中石化重庆活陵页岩气勘探开发有

限公司、中石化华北油气分公司。

本标准主要起草人：李芳、夏雪飞、邹晓春、谭梦琦。

n

SYff7324-2016

X射线荧光录井仪校准方法

t范围

本标准规定了X射线荧光录井仪的技术要求、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果处理

和复校时间间隔、HSE要求。

本标准适用于新制造、使用中和修理后的能量色做型X射线荧光景井仪的校准．

本标准所用的元素特征X射线能量值均为Kα能量跃迁层能量。

2术语和定义

.F列术语和定义适川于本文件。

2.1

X射线荧光景井X-rayHuor创cencelogging

采用X射线荧光录井仪，根据荧光X射线的被长（能量）和强度对被测样品中元素进行定性和

定量分析，从而进行随钻也·性识别和地层分析的录井技术。

2.2

X射线荧光景井仪X-rayHuor凶cencelogginginstrument

采用半导体检测器，多道脉冲分析器直接测量试样产生的X射线的波长（能量）的一种X射线

荧光分析仪。将X射线照射到l岩有．样品t，分析其产生的荧光X射线的波长（能量）及强度来进行

定性、定量确定元素的种类与含量。主要由激发源、探测系统和仪器控制及数据处理系统和其他辅助

设备组成。

2.3

单元素标准样singleelementstandardsample

用来校准单一元素在荧光谱图上的位置与波形的样品，一般由该元素的游离态、氧化物或其他化

合物组成．

3概述

X射线荧光录井仪是通过对地层样品进行元素定性和定量分析的仪器