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模块化纳米结构分析工具 SAXSpace 想了解 SAXS 的最新内容吗？ 这有一些要点。 SAXS 是什么？ SAXS，小角 X-射线散射是一种用于研究 内部结构 1 nm 至 200 nm 纳米结构的无损方法。 SAXS 结果可以代表整个样品，因此，SAXS 非常理想地补充了只能提供局部信息的方法， 如电子显微镜方法。 形状 SAXS 还可以研究处于自然状态的生物样品。 这种流行的应用被称为 Bio-SAXS。 孔隙度 SAXS 测定 另一个重要的 SAXS 技术为 GISAXS（GI = 掠入射）。该技术可用于研究纳米结构表面 什么？ 和薄膜样品。 取向 尺寸 结晶度 小角或广角 - 不同的结果 Detector WAXS：大角度（通 常 10°）处的信号 X-射线穿过样品，并被样品的粒子和 畴区散射，产生与样品纳米结构特性 可提供原子水平上的 Sample 晶体结构信息。 对应的散射图。散射的 X-射线在不同 d 1 nm 的角度被记录下来。 入射 X 射线 Pinholes 光束 在 SAXS 中，可以利用小角度 ( 10° 2θ)散射信息测定尺寸不超过 200 纳 SAXS：低角度处收集 X-ray source 米的分子结构。 的散射信号可以提供尺 寸高达几百纳米的大组 装体的相关信息。 为了研究更小的结构，如原子水平