金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价.pdf

第36卷第l期：0054—0056 电力电容器与无功补偿 2015年2月 P0wer Power Feb．2015 C印acitor＆Reacme Compensation DOI：10．14044，j．1674—1757．pc印c．2015．01．012 金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价 陈才明 (宁波新容电器科技有限公司，浙江宁波315202) 摘 要：电容器的损耗是由介质损耗和金属损耗二部分组成，损耗角正切(ta∞)是金属化薄膜电容 器重要技术参数，如果通过测试能找出引起损耗超标的原因。将有利于产品质量的持续改进提高。 通过简化电容器的等效电路和采用不同频率的测量分析，可定性判定损耗角正切超标的原因，同时 指出测量金属化薄膜电容器损耗角正切(ta确)应着重于产品的一致性和试验后增量。对于追求“越 小越好”的观点需要改变。 关键词：金属化薄膜电容器；损耗角正切；介质损耗；金属损耗 ofMetaUzed M昀舳rementandEValua戗Onontan6 Film Capacitor CHEN Caiming Electrical Shine (Ningbo Co．，Ltd．，Ningbo315202，Chi触) Technologies Abstract：Thelossof ismadeof asdielectric lossand suchtwo lossandmetal c印acitor up parts t锄gent ofloss technical ofmetal．izedfilm there鹊onofwhich angle(tar岱)is important p啪metells c印acitor．If thelossexceedsthe valuecanbefoundout wiⅡbe in test，it helpfulsustainingiⅡlprovement specified by ofthe reasonof tIle valuecanbe productquality．7rheta沁exceedingspecified qualitativelyjudgedby of at way the circuitof aIldof measurementdi矗．erent simplifyingequiValent capacitorusing analysis