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耐高温NTC热敏电阻制备工艺及真空失效机理研究的开题报告
目的和意义：
耐高温NTC热敏电阻是一种可以在高温环境下稳定工作的电子元件，广泛应用于航空航天、核电、石化等领域。研究其制备工艺及真空失效机理，可以更好地提高其稳定性和可靠性，促进其应用范围的拓宽和深入。
研究内容：
1. 耐高温NTC热敏电阻的制备工艺探究，包括材料选择、制备方法、热处理条件等方面的研究，以提高电阻的热稳定性和电学性能。
2. 真空失效机理的研究，通过薄膜结构的模型分析和实验验证，探究元件在真空环境下的老化机理、电学性能变化规律，为元件的应用和调节提供科学依据。
3. 耐高温NTC热敏电阻的应用研究，包括元件在不同环境下的工作特性、使用寿命等方面的研究。
研究方法：
1.材料制备：选用合适的材料进行制备，通过不同的工艺条件比较电阻的热稳定性、电学性能等参数。
2.真空失效机理研究：利用金属薄膜的自行漂移和膜内扩散等老化机理，搭建失效实验平台，建立元件性能变化的评价标准。
3.应用研究：利用自行搭建的测试平台，对耐高温NTC热敏电阻在高温、低温、真空等不同环境下进行测试，分析其工作特性、使用寿命等参数。
研究意义：
1.提高耐高温NTC热敏电阻的热稳定性和电学性能，提高其可靠性和稳定性，为其应用于更广泛的领域提供技术支撑。
2.研究电子元件的失效机理，为保障元件长期运行提供科学依据，同时可以提高对元器件失效模型及仿真模型的认识。
3.应用研究，可以在不同环境下开展测试，为元件在实际应用中提供更科学的评价标准，为元器件在实践中提供清晰准确的使用说明和保障手段。
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