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统计过程控制 SPC (Statistical Process Control )　;目　　录;第一章 SPC概论;1.1与控制有关的要素;1.什么是SPC? S = Statistical P= Process C = Control SQC ? ;1.4 精 度;精度的概念;1.5过程的变差;变差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。 特殊原因： （通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施，否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。 ;天氣的變化 環境的影響 物料在一定範圍內的變化 依據作業標準執行作業的變化 其他未知因素的影響;仅存在变差的普通原因;局部措施和对系统采取措施 局部措施 通常用来消除变差的特殊原因 通常由与过程直接相关的人员实施 通常可纠正大约15%的过程问题 对系统采取措施 通常用来消除变差的普通原因 几乎总是要求管理措施，以便纠正 大约可纠正85%的过程问题 ;1.6 过程控制;1.6 过程控制;第二章 控制图介绍;2.1 控制图原理说明 在统计过程控制中最常见的分布是正态分布 正态分布被二个参数 μ 与σ完全确定，记为N（ μ， σ2 ） μ 表示分布的中心位置 σ表示分布的标准差或者表示数据的分散程度，或用极差表示 若某过程输出特性 x 服从N(μ，σ2 )那么该过程输出产品中有68.26 ％在界限μ± 1σ内，即有31.74%产品在界限μ± 1σ之外。; 工序处于稳定状态下，其计量值的分布大致符合正态分布。由正态分布的性质可知：质量数据出现在平均值的正负三个标准偏差(X?3?)之外的概率仅为0.27%。这是一个很小的概率，根据概率论 “视小概率事件为实际上不可能” 的原理，可以认为：出现在X?3?区间外的事件是异常波动，它的发生是由于异常原因使其总体的分布偏离了正常位置。 ; 控制限的宽度就是根据这一原理定为?3?。 1924年，休哈特博士建议用界限 μ± 3σ作为控制界限来管理过程。即我们常说的3σ管理。;α虚发警报;控制图 ; ;控制图的构成;控制图的要素;控制图类型;第三章计量型控制图;3.1 计量型数据控制图;3.2 计量型数据;1、确定测量系统 a 规定检测人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 2、使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 ;从生产线抽取并测量2个样品;这两个数据能…？;结论： 少量的测量数据不能说明过程的变差范围。！;第一节 均值和极差图（X-R） ;*;*;1-3、计算每个子组的均值（Xbar）和极差R 对每个子组计算： X=（X1+X2+…+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?为子组内的每个测量值。n 表示子组的样本容量 1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 4-2 刻度选择 ：; 注：一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为 X 图刻度值的2倍。 （ 例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上1个刻度代表0.02英寸） 1-5、将均值和极差画到控制图上 5-1 X 图和 R 图上点描好后及时用直线联接，浏览各点是否合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 5-2 确保所画的X bar和R点在纵向是对应的。 注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。; 2. 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+…+Rk）/ k（K表示子组数量）