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稀土离子掺杂的Sr2MsSiO5荧光粉的制备及发光特性研究的中期报告.docx

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稀土离子掺杂的Sr2MsSiO5荧光粉的制备及发光特性研究的中期报告 本中期报告主要介绍了稀土离子掺杂的Sr2MsSiO5荧光粉的制备过程及发光特性研究的进展情况。具体内容如下: 1. 实验概述 本实验旨在研究稀土离子掺杂的Sr2MsSiO5荧光粉的制备方法及其发光特性。首先通过共沉淀法制备出Sr2MsSiO5基质粉末,随后采用固相反应法将不同的稀土离子掺杂到基质粉末中。制备完成后,通过荧光光谱仪和X射线荧光光谱仪对样品进行表征。 2. 制备过程 通过先制备出Sr2MsSiO5基质粉末,然后将不同的稀土离子掺杂到基质粉末中。具体制备步骤如下: (1)制备 Sr2MsSiO5 基质粉末 将Sr(NO3)2、M(NO3)2(M代表镁或锌)、SiO2加入去离子水中,搅拌均匀后加入氨水和尿素,继续搅拌反应2小时,最后干燥得到Sr2MsSiO5基质粉末。 (2)稀土离子掺杂 将制备好的Sr2MsSiO5基质粉末与不同的稀土离子掺杂物(如EuCl3、SmCl3等)混合均匀,并在高温下进行固相反应,制备出相应的稀土离子掺杂的Sr2MsSiO5荧光粉。 3. 实验结果 通过荧光光谱仪和X射线荧光光谱仪对样品进行表征,获得了以下实验结果: (1)荧光光谱 通过荧光光谱测试,发现Sr2MsSiO5基质粉末的荧光峰位于420nm,掺杂Eu3+后的荧光峰位于592nm,掺杂Sm3+后的荧光峰位于606nm,掺杂Dy3+后的荧光峰位于482nm。 (2)X射线荧光光谱 通过X射线荧光光谱测试,发现Sr2MsSiO5基质粉末的荧光峰位于398nm,掺杂Eu3+后的荧光峰位于590nm,掺杂Sm3+后的荧光峰位于604nm,掺杂Dy3+后的荧光峰位于481nm。 4. 结论 通过实验发现,掺杂不同的稀土离子对Sr2MsSiO5荧光粉的发光特性产生了显著影响。这些结果为进一步探究Sr2MsSiO5荧光粉的制备及发光特性提供了有价值的参考。
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