X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的e2O3 - 分析测试.PDF

第 卷第 期 分 析 科 学 学 报 年 月 21 3 2005 6 Vol.21 No.3 JOURNALOFANALYTICALSCIENCE June 2005 ================================================= 文章编号: ( ) 1006-6144 200503-0347-02 X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的O 2 3 * 苏亚勤 ,熊朝东,刘 燕 (江西省分析测试研究所,南昌 ) 330029 摘 要:采用粉末压片法,以 射线荧光光谱法对锆钇粉体中的 进行了测定;运用 X Y O 2 3 数学模式进行干扰因素和基体效应的校正。所得分析结果的精密度和准确度可满 DJ 足生产分析要求。 关键词: 射线荧光光谱法;锆钇粉体; X Y O 2 3 中图分类号: ; + 文献标识码: O657.34 O614.32 2 A 锆钇粉体作为现代工业上的一类重要原材料,被广泛地应用于陶瓷、玻璃、电子、冶金、化工、机械等领 域,被誉为当今的高科技材料之一。本文采用粉末压片制样法,合理选择分析和制样条件,利用 PW-1404 型 射线荧光光谱仪提供的 数学模式进行干扰因素和基体效应的校正,扣除谱线重叠干扰,可取得满 X DJ 意的线性回归曲线。在选定的仪器测量条件下,应用本法对产品锆钇粉体进行了分析,并与相关实验室的 结果进行了比对。结果表明,本法简便、快捷、准确,分析结果满意。 1 实验部分 1.1 仪器和试剂 射线荧光光谱仪, 靶管; 计算机; 油压机 PhilisPW-1404X Rh Micro D -11 15t p p p 、 的光谱纯标准 ZrO Y O 2 2 3 1.2 标样与样品的制备 将标样按比例混合,研磨 ,取标准样品 加入甲基纤维素 ,在玛瑙研钵中研磨 5 10min 0.1 0.9 ～ g g ,然后在 压力下压成直径 的圆片。待测样品的制备亦与标准样品相同。 5min 26MP