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招标进口设备技术参数 1、X射线衍射仪 1.X射线衍射仪X射线光源部分： 高压发生器：最大输出功率：3kW；最大管电压：60kV；最大管电流：60mA；电流电压稳定度:优于±0.005% (外电压波动+10%时)。 标准尺寸的Cu 靶陶瓷精聚焦X 射线管功率2.2kW。 *测角仪：(/(立式测角仪，样品水平不动。 角度重现性：≤0.0001(；可读最小步长：≤0.001( 1.5.驱动方式：步进马达驱动，扫描速度：0.1o ~50o /min；2θ扫描范围：-(~+160( *1.6.自动连续狭缝系统：三种狭缝切换均由计算机自动控制； 入射狭缝：0.01~7mm, 程序自动可调，0.01mm步进； 散射狭缝：0.01~7mm, 程序自动可调，0.01mm步进； 接收狭缝：0.01~7mm, 程序自动可调，0.01mm步进； 1.7.样品架：0片 2.*探测器：一维半导体阵列检测器 *3.提供平行光路与聚焦光路两套光学系统，且聚焦光学系统与平行光学系统一体化，两个光路切换容易，光路自动校准，全自动计算机控制，无须手动更换任何硬件；平行光路必须采用平行光反射镜（多层膜透镜）加平行光索拉狭缝组合，角度发散度≤0.03o；含小角衍射模块，具有小角衍射功能。 *4.小角散射光学系统：高分辨0.03(。带真空散射光路（含真空泵）。 *5.高温测量系统: 温度范围：室温到1500℃; 控温精度：±0.1℃; 并可在真空、环境气氛多种方式下加热。 X射线防护：安全连锁机构、剂量符合国标： ( 1.0μsv/h。 仪器控制和数据采集系统1200 x 1200 dpi 分辨率 8.应用软件常规数据分析功能：含物相定性检索软件、RIR定量分析软件，点阵参数精密化,晶粒大小计算与晶胞畸变结晶度分析等应用软件，和Rietveld无标样定量及解析软件等。提供粉末衍射数据库。 配备外循环水冷系统。 1.分析系统与脱气系统 分析系统与脱气系统必须为一体机，不可以为分体机。配有一个分析站和两个脱气站，仪器需要配置两套真空系统，包括机械泵1台，干泵和分子涡轮泵各一台。且脱气站和分析站各配有独立的真空系统(为确保精度，脱气站和分析站不可共用真空系统)。其中脱气站为一个双级机械泵，并且脱气站控制为计算机控制。分析站配备一个无油双级机械泵和一个无油分子涡轮泵。分子涡轮泵最低真空度1×10-9mmHg。为了提高测试效率，分析站与脱气站的比例为1：2 。 2.冷浴液面控制 此仪器必须配备有等温夹套管，以确保分析的准确性，控制液面变化0.1mm，等温夹必须适合各种冷浴，包括液氮，液氩，冰水等，不能使用液位传感器。所有阀门必须为电磁阀，不可用气动阀. *3.双冷阱系统 仪器配备双冷阱，既脱气站和分析站分别配有独立的冷阱系统，不可合用冷阱管，配备大容量3L不锈钢冷阱杜瓦 。 4.化学系统高温炉 配备高温炉，温度范围室温---1100度 5.气体吸附进气口 物理进气口9个，1个自由体积进气口，1个回填气体口。更换气路,流速调节为自动控制 *6.分析范围 分析范围:比表面积: 0.0001m2/g 无上限；孔径分析范围 : 3.5 ? to 5000 ? 微孔区段的分辨率为0.2 ?；孔体积最小检测: 0.0001 cc/g detectable 7. 样品转移阀 配备专用单向导通阀，以用于样品在移动过程中完全密闭，不发生大气交换。 *8.压力传感器系统 配备0.1Torr，10 Torr，1000 Torr三级压力传感器。 *9.标准样品检测 提供随机标准样品：介孔标样，微孔标样 10.除具备标准的NLDFT模型外，必须提供的模型 Ar@77K, Zeolites Me‐Form, NLDFT Ar@77K 氧化物及碱性金属(Na,Ca,K 等)离子交换型分子筛 Ar@77K, Zeolites H‐Form, NLDFT Ar@77K 氧化物及H+/NH4 N2@87K 碳材料，孔径0.35 纳米－100 纳米，无限狭缝孔，吸附数据可使用高达饱和/升华压力（2130tor） N2@77K 碳材料，孔径0.35 纳米‐5 纳米，2D‐NLDFT, 有限狭缝孔，孔壁径与孔宽度比为6 Ar@87K 碳材料，孔径0.35 纳米‐25 纳米，2D‐NLDFT, 有限狭缝孔，孔壁径与孔宽度比为12 Ar@87K 碳材料，孔径0.35 纳米5 纳米，2D‐NLDFT, 有限狭缝孔，孔壁径与孔宽度比为6 Ar@87K 碳材料，孔径0.35 纳米‐5 纳米，2D‐NLDFT, 有限狭缝孔，孔壁径与孔宽度比为12 11. 专家系统 11.1 国际品牌电脑、电脑桌椅。提供数据分析处理软件1套，配备Physi ViewCalc软件处理系统，可安装在2台以上的计