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组成和体系结构实验一.ppt

发布:2017-04-25约字共28页下载文档
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计算机组成与体系结构课程设计;存储器实验;存储器实验;存储器实验;存储器实验;FPGA中ROM配置与读出实验(1);FPGA中ROM配置与读出实验(2);FPGA中ROM配置与读出实验(3);FPGA中ROM配置与读出实验(4);FPGA中ROM配置与读出实验(5);FPGA中ROM配置与读出实验(6);存储器实验;LPM_RAM_DQ双端口RAM实验(1);实验原理 在 FPGA中利用嵌入式阵列块 EAB可以构成存储器,lpm_ram_dq的结构 ;实验原理 WE读/写控制端,低电平时进行读出操作;高电平时进行“写出”操作,(注意:这里的写操作有点特殊,WE为高点平,当时钟上升沿到来时,会将D[7..0]的数据写入A[7..0]所指示的单元内,同时在紧接着的时钟下降沿,会将刚写入的数据输出到Q[7..0],因而称之为“写出”操作。 CKL读/写时钟脉冲;(读/写都是上升沿有效) D[7..0]——RAM的8位数据输入端; A[7..0]——RAM的读出和写入地址; Q[7..0]——RAM的8位数据输出端。 实验步骤 参照前面的步骤,器件选择为lpm_ram_dq,其它步骤与前面类似。;四 关键过程图(这里不用选ROM文件,直接仿真既可) ;LPM_RAM_DQ双端口RAM实验(5);LPM_RAM_DQ双端口RAM实验(5);LPM_RAM_DQ双端口RAM实验(6);FPGA与外部RAM接口实验;FPGA与外部RAM接口实验(1);FPGA与外部RAM接口实验(2);FPGA与外部RAM接口实验(3);FPGA与外部RAM接口实验(4);FPGA与外部RAM接口实验(5);FPGA与外部RAM接口实验(6);FPGA与外部RAM接口实验(7);存储器实验
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