SMT车间标准工时制定方法（英华达公司）.pptx

SMT cycle time量測方法 DEK cycle time測量方法 DEK 如設定3片一擦拭,測量時間可由真空擦拭後第一片進板至第三片後真空擦拭完畢停表.得出一個周期時間,再除去機台設定的印刷片數.就可得出每片需要的cycle time SPI cycle time測量方法 SPI 測量前一片進板至後一片進板的總時間.就是每片 SPI的cycle time.看機型誤判情況,適當增加1S-2S寬放. CM402 cycle time測量方法 CM402 1,測量一個TBL前一片進板至後一片進板的總時間.就是每個TBL的cycle time. 2,相同零件數.cycle time有差異 3,cycle time相同,零件數有差異 GSM cycle time測量方法 GSM 1,測量前一片進板至後一片進板的總時間.就是每片的cycle time. 2,相同零件數.cycle time有差異 3,cycle time相同,零件數有差異 爐前AOI cycle time測量方法 爐前AOI 測量前一片進板至後一片進板的總時間.就是每片AOI的cycle time.看機型誤判情況,適當增加1S-2S寬放. 爐後AOI cycle time測量方法 爐後AOI 測量前一片進板至後一片進板的總時間.就是每片 AOI的cycle time.看機型誤判情況,適當增加1S-2S寬放. 各站cycle time呈現范例 a,相同零件數.cycle time有差異 b,cycle time相同,零件數有差異 c,整條線時間最長站別,就是所謂的CT瓶頸站 d,產能計算為3600S/瓶頸站/連板數*11.4(每班) 各站cycle time柏拉圖呈現范例 改善有以下兩點方向: 如DEK 瓶頸,觀查目前良率,線平衡等綜合因素考量,提升DEK印刷速度其可行性 b,CM402/GSM程式異常,需重新調整程式進行優化,目標為同類型機台cycle time時間至2S以內