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基于MOS积累层导电的SiC二极管:原理设计与应用的深度剖析.docx

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基于MOS积累层导电的SiC二极管:原理、设计与应用的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今半导体技术飞速发展的时代,碳化硅(SiC)作为第三代宽禁带半导体材料的杰出代表,凭借其卓越的性能,如禁带宽度为硅的3倍,击穿电场强度高达硅的10倍,热导率是硅的2.5倍,电子饱和速率为硅的2倍等优势,在半导体领域占据着愈发重要的地位,成为了众多研究的焦点。

SiC二极管作为SiC材料的重要应用之一,在电力电子领域发挥着关键作用。传统的硅基二极管在面对高压、高温、高频等严苛工作条件时,往往显得力不从心,难以满足现代工业日益增长的需求。而SiC二极管却能在这些极端条件

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