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GB/T 42968.2-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法.pdf

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ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT42968.22024IEC62132-22010

集成电路电磁抗扰度测量

:

第部分辐射抗扰度测量

2

TEM小室和宽带TEM小室法

——

InteratedcircuitsMeasurementofelectromaneticimmunit

ggy

:—

Part2MeasurementofradiatedimmunitTEMcellandwideband

y

TEMcellmethod

(:,)

IEC62132-22010IDT

2024-10-26发布2024-10-26实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT42968.22024IEC62132-22010

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4概述………………………2

5试验条件…………………3

6试验设备…………………3

6.1通则…………………3

6.2电缆…………………3

6.3RF骚扰源……………3

6.4TEM小室……………3

6.5GTEM小室…………………………4

6.650Ω终端……………4

6.7DUT监测设备…………………

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